測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
SGW X-4顯微熔點(diǎn)儀|SGW-X-4顯微熔點(diǎn)儀【產(chǎn)品詳情】
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))
±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))
溫度顯示zui小值: 1℃
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