FT35P露點儀采用VAISALA公司提供的DMT242高分子薄模式探頭,主要適用干燥氣體微水份檢測,探頭可防結(jié)露及油氣污染.自動校準程序確保儀器具有*穩(wěn)定性.技術上克服了幾乎所有現(xiàn)場測量的不利因素 它從內(nèi)核到外觀都體現(xiàn)了*科技及超前設計。廣泛適用于電力,化工,航空,冶金,醫(yī)藥,食品等行業(yè).
檢測快捷: +60 ~ -20℃ ≤0.5 min
-20 ~ -45℃ ≤1.2 min
-45 ~ -80℃ ≤5 min
穩(wěn)定: 校準功能自動修正微小漂移量,確保優(yōu)異的重復性和穩(wěn)定性.
技術參數(shù):
測量范圍:-80°C......+20°C -60......+60°C
電 源: 額定24V DC(9-32V DC)
通 信: RS232, DewPro協(xié)議
傳感元件:平面金/氧化鋁電容原理
*再校準周期:12-24個月,按應用和所需精度
校準精度:20°C(68°F)環(huán)境溫度時2°C(3.6°F)露點
可重復性:±1°C(1.8°F)
zui大相對濕度: 露點溫度>0°C(32°F)時50%
溫度系數(shù): <0.2°C/°C(<0.2°F/°F)
環(huán)境和保存溫度: -40°C(-40°F)至+50°C(+122°F)
額定操作溫度: -20°C(-4°F)至+40°C(+104°F)
氦泄漏率: 10mbarl/s
氣體zui大速度: 1巴時50m/s 10巴時5m/s
預防塵粒: 帶10微米過濾器的保護蓋
重 量: 4Kg