日本理研計(jì)器大氣光電子產(chǎn)率譜儀AC-5
功能 (*) 為可選
?
采用平板式開(kāi)放式計(jì)數(shù)器，可計(jì)數(shù)高達(dá) 4000 cps 的光電子
?
能夠安裝尺寸達(dá) 180 x 180 毫米的大型樣品
?
任何位置都可以通過(guò)點(diǎn)定測(cè)量進(jìn)行測(cè)量。
?
使用樣品更換器 (*) 可自動(dòng)測(cè)量多達(dá) 25 個(gè)板狀或粉末狀樣品。
?
通過(guò)使用Xe（氙）燈（*），可以以高靈敏度測(cè)量不易產(chǎn)生電子的物質(zhì)。
目的
?
有機(jī)EL和復(fù)制感光材料的電離勢(shì)測(cè)量
?
硬盤和磁帶摩擦學(xué)研究
?
半導(dǎo)體和引線框架表面氧化態(tài)的測(cè)量
?
精密電子材料中分子級(jí)薄膜污染檢測(cè)
?
測(cè)量以下功能材料的電離勢(shì)：
有機(jī)EL、有機(jī)太陽(yáng)能電池、有機(jī)晶體管、復(fù)印感光材料、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池、量子點(diǎn)、碳納米材料、催化劑材料、蓄電池、燃料電池、半導(dǎo)體材料（Si、GaN） 、GaAs等）、透明導(dǎo)電膜（ITO、FTO等）
日本理研計(jì)器大氣光電子產(chǎn)率譜儀AC-5
產(chǎn)品分類 | 大氣光電子產(chǎn)率譜儀 |
模型 | 交流-5 |
測(cè)量原理 | 大氣光電子產(chǎn)率譜儀（檢測(cè)部分：低能光電子計(jì)數(shù)法） |
光電探測(cè)器 | 平面開(kāi)放式柜臺(tái) |
紫外線能量范圍 | 3.4～6.2eV |
最小光量 | 1.0nW 或更低（5.9eV 時(shí)） |
最大光強(qiáng)度 | 500.0nW 或以上（D2 燈）/2500.0nW 或以上（選項(xiàng)：Xe 燈）（5.9ev 時(shí)） |
重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)差） | 功函數(shù)0.02eV（樣品：金板） |
紫外光源 | D2燈/Xe燈（可選） |
紫外光斑尺寸 | 4 x 4 mm或更?。ㄓ捎诰酃馔哥R的色差而因能量而異） |
最大光電子計(jì)數(shù)率 | 4000cps |
光譜儀 | 光柵式單色儀 |
最大樣本量 | 面積180×180mm以下，厚度1±0.2mm以下 |
溫濕度范圍 | 溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH |
電源 | AC100V-240V |
外形尺寸 | 光源部分 LC-1：約 450(W) x 300(H) x 500(D)mm |
重量 | 光源部分 LC-1：約 35 kg |
