Nicomp 380 Z3000系列納米粒徑與電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLS&S基礎(chǔ)上升級配套而來,采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理檢測分析顆粒的粒度分布,同機采用多普勒電泳光散射原理(Doppler Electrophoretic Light Scattering, DELS)檢測ZETA電位。粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm,ZETA電位檢測范圍為+/- 500mV。ZETA電位模塊使用雙列直插式方形樣品池和鈀電極,一個電極可以使用成千上萬次。另外,采用可變電場適應(yīng)不同的樣品檢測需求。既保證檢測精度,亦幫用戶大大節(jié)省檢測成本。
納米粒徑與電位分析儀技術(shù)優(yōu)勢
1、APD&PMT雙檢測器;
2、多角度檢測(multi angle)模塊;
3、可搭配不同功率光源;
4、雙列直插式電極和樣品池,可反復(fù)使用成千上萬次;
5、鈀電極;
6、精確度高,接近樣品真實值;
7、復(fù)合型算法:
高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法自由切換
相位分析法(PALS)和頻譜分析法(FALS)自由切換
8、快速檢測,可以追溯歷史數(shù)據(jù);
9、結(jié)果數(shù)據(jù)以多種形式和格式呈現(xiàn);
10、符合USP,CP等個多藥典要求;
11、無需校準;
12、復(fù)合型算法:
(1)高斯(Gaussion)單峰算法與Nicomp多峰算法自由切換
10、模塊化設(shè)計便于維護和升級;
(1)可自動稀釋模塊;
(2)搭配多角度檢測器;
(3)自動進樣系統(tǒng)(選配);
380/MA多角度檢測器
粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175,步長0.7°的多角度測角器,從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品,通過調(diào)節(jié)角度進行檢測,改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度。