TSM超細(xì)顆粒粒度分析儀是一種基于消光法原理的新型顆粒粒度分析儀器，用于測量超細(xì)顆粒的粒度分布。本儀器由主機，計算機和打印機，儀器操作軟件等組成。儀器具有操作簡單，測量時間短，操作軟件良好的人機對話界面等優(yōu)點。可廣泛用于電子，光學(xué)，化工，醫(yī)藥等行業(yè)測量超細(xì)固體顆粒、懸乳劑、懸浮液等的顆粒和液滴的平均尺寸和尺寸分布。以表格形式和直方圖形式給出被測顆粒的粒度分布和累積分布的測量結(jié)果，以及D32， Dv50等多種平均粒徑和比表面積。
主機內(nèi)包括光源，光學(xué)系統(tǒng)，測量樣品池，光電信號轉(zhuǎn)換及放大系統(tǒng)，A/D數(shù)據(jù)采集卡等。主機輸出信號通過USB電纜與計算機的USB口相連接，計算機對主機測量進行控制和數(shù)據(jù)處理，并打印輸出結(jié)果。
技術(shù)特點：
1、大功率白色光源
2、采用國產(chǎn)光譜接收器
3、集多年研究之成果，*消光理論的完美應(yīng)用
4、*反演算法，保證顆粒測量的準(zhǔn)確
5、USB接口，儀器與計算機一體設(shè)備，10.8寸觸摸屏，直接顯示數(shù)據(jù)與粒徑分布，可連接U盤、打印機、鼠標(biāo)等。
6、微量固定樣品池，超高感應(yīng)靈敏度，僅需少量樣品
7、軟件個性化，提供測量向?qū)У缺姸喙δ?，方便用戶操作?/span>
8、測量結(jié)果輸出數(shù)據(jù)豐富，保存在數(shù)據(jù)庫中，能用任意參數(shù)，如操作者姓名，樣品名，日期，時間等進行調(diào)用分析，與其他軟件實現(xiàn)數(shù)據(jù)共享；
9、儀器造型美觀，體積小重量輕；
10、超細(xì)顆粒粒度分析儀測量精度高，重復(fù)性好，測量時間短；
11、軟件提供眾多物質(zhì)折射率供用戶選擇，滿足用戶查找被測顆粒折射率要求；
12、考慮到測試結(jié)果的保密要求，只有*操作者才能進入相應(yīng)數(shù)據(jù)庫讀取數(shù)據(jù)和處理；
技術(shù)參數(shù)：
型號 | TSM-A1 | |
光源功率 | 20W 12V 鹵素?zé)?/span> | |
接收器 | 國產(chǎn)光學(xué)光譜接收器 | |
粒徑測量范圍 | 0.05μm－10.0μm | |
重復(fù)測量誤差 | < 2％ | |
測量誤差 | <3％ (用國家標(biāo)準(zhǔn)顆粒檢驗)； | |
數(shù)據(jù)輸出 | 體積、數(shù)量微分分布和累積分布表和圖表；多種統(tǒng)計平均直徑；操作者姓名、單位、樣品名；選用折射率，測量時間等相關(guān)信息。 | |
用戶登錄功能 | 可以設(shè)置多位用戶與密碼，由不同的人員操作 | |
審計追蹤功能 | 監(jiān)控每個用戶對設(shè)備的所有操作 | |
通訊接口 | USB接口 | |
樣品池 | 固定樣品池4.5mL | |
測量分析時間 | 正常條件下小于1分鐘（從開始測量到顯示分析結(jié)果）。 | |
工作環(huán)境溫度 | 5－30 ℃； | |
電源 | 180－240V，50 Hz； | |
外形尺寸 | 320 mm×280 mm×120 mm； | |
重量 | 8kg | |
顯示方式 | 1. 1、內(nèi)嵌10.8寸超大工業(yè)級別的電腦，無需另配電腦，一體化設(shè)備 2. 2、預(yù)安裝軟件，無電腦適應(yīng)性問題，減少由于更換使用電腦，安裝驅(qū)動錯誤導(dǎo)致的連接等問題 3. 3、配置WIN 10系統(tǒng)，擁有32GB容量、2GB系統(tǒng)內(nèi)存，無需使用U盤轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)，儀器內(nèi)部即可存儲，操作方式觸摸屏與鼠鍵均可使用 | |
