概述
導波雷達物位計，可發(fā)射高頻率微波，沿著探桿傳播，由于遇到被測介質(zhì)，介電常數(shù)突變，引起反射。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質(zhì)的距離成正比。同時，雷達物位計也可以測量兩種不同介質(zhì)的界面，充分利用介質(zhì)的介電常數(shù)的不同。但測量條件是上層介質(zhì)不導電，或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數(shù)介質(zhì)，并安全適用于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境無傷害。廣泛應用于煤廠、電廠、石油化工和食品等行業(yè)。
產(chǎn)品特點
可以測量介電常數(shù)大于等于1.4的大多數(shù)介質(zhì)。
適用于測量粘稠液體，或溫度和壓力變化大的場合。
適用于測量明顯的揮發(fā)性氣體介質(zhì)。
可用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況。
介電常數(shù)或比重變化的介質(zhì)應用場合。
用于固體顆粒、粉末介質(zhì)。
粉塵飛揚大的介質(zhì)。
?
導波雷達物位計，可發(fā)射高頻率微波，沿著探桿傳播，由于遇到被測介質(zhì)，介電常數(shù)突變，引起反射。發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間間隔與被測量介質(zhì)的距離成正比。同時，雷達物位計也可以測量兩種不同介質(zhì)的界面，充分利用介質(zhì)的介電常數(shù)的不同。但測量條件是上層介質(zhì)不導電，或其介電常數(shù)比下層介質(zhì)介電常數(shù)小10倍以上。脈沖的工作方式可測量小介電常數(shù)介質(zhì)，并安全適用于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對人體及環(huán)境無傷害。廣泛應用于煤廠、電廠、石油化工和食品等行業(yè)。
產(chǎn)品特點
可以測量介電常數(shù)大于等于1.4的大多數(shù)介質(zhì)。
適用于測量粘稠液體，或溫度和壓力變化大的場合。
適用于測量明顯的揮發(fā)性氣體介質(zhì)。
可用于泡沫、掛壁和結垢、表面波動、鼓泡或沸騰、高頻裝卸料、超低液位工況。
介電常數(shù)或比重變化的介質(zhì)應用場合。
用于固體顆粒、粉末介質(zhì)。
粉塵飛揚大的介質(zhì)。
