特性阻抗測(cè)試儀主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)高保真度信號(hào)捕獲超低時(shí)基抖動(dòng)  在同時(shí)采集的多8條通道上，典型值為425 fs  在配備82A04相位參考模塊時(shí)，在多6條通道上典型值為<200 fs佳的垂直分辨率 – 16位模數(shù)轉(zhuǎn)換器  電接口分辨率：<20 μV LSB (1 V全量程)  光接口分辨率取決于光接口模塊的動(dòng)態(tài)范圍 – 從80C07B (1 mW全量程)的<20 nW到80C10B (30 mW全量程)的<0.6 μW靈活的配置通過(guò)當(dāng)前采樣模塊系列，DSA8300特性阻抗測(cè)試儀支持同時(shí)采集多8個(gè)信號(hào)  多種光接口、電接口和附件模塊，滿足您的特定測(cè)試要求  光接口模塊  全面集成光接口模塊，支持155 Mb/s - 100 Gb/s所有標(biāo)準(zhǔn)光接口數(shù)據(jù)速率  經(jīng)過(guò)認(rèn)證的光接口參考接收機(jī)，支持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定必須進(jìn)行的一致性測(cè)試的要求  >80 GHz的光接口帶寬  光接口采樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動(dòng)態(tài)范圍，可以準(zhǔn)確地測(cè)試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)  經(jīng)過(guò)全面校準(zhǔn)的時(shí)鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動(dòng)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗  經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)的消光比測(cè)量，在采用這一出廠校準(zhǔn)選項(xiàng)模塊時(shí)，系統(tǒng)間消光比測(cè)量可靠性<0.5 dB電接口模塊  電接口帶寬>70 GHz  超低噪聲電接口采樣器(280 μV @ 20 GHz, 450 μV @ 60 GHz, 典型值)  可以選擇帶寬(使用80E07, 08, 09, 10)，允許用戶用采樣器帶寬和噪聲換取優(yōu)的數(shù)據(jù)采集性能  遠(yuǎn)程采樣器 (80E07, 08, 09, 10)或緊湊的采樣擴(kuò)展器模塊電纜，采樣器可以放在被測(cè)器件附近，使信號(hào)劣化達(dá)到小 世界上性能高的集成TDR (10 ps典型階躍上升時(shí)間)，高效檢定阻抗不連續(xù)點(diǎn)，高動(dòng)態(tài)范圍，執(zhí)行高達(dá)50 GHz的S參數(shù)測(cè)量分析標(biāo)準(zhǔn)分析功能  為NRZ、RZ和脈沖信號(hào)類型提供了一套完整的超過(guò)120種自動(dòng)測(cè)量功能  80多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動(dòng)進(jìn)行模板測(cè)試。新模板可以導(dǎo)入到DSA8300中，支持新的新興標(biāo)準(zhǔn)。此外，用戶可以為自動(dòng)模板測(cè)試定義自己的模板  垂直直方圖和水平直方圖，對(duì)采集的波形進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析  垂直光標(biāo)、水平光標(biāo)和波形光標(biāo)(帶測(cè)量數(shù)據(jù))通過(guò)80SJNB基本和高級(jí)應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供抖動(dòng)、噪聲、BER和串行數(shù)據(jù)鏈路分析  通過(guò)IConnect®應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供高級(jí)TDR分析、S參數(shù)測(cè)量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能高測(cè)試吞吐量每條通道高達(dá)300 kS/s的采樣采集速率  高效編程接口(IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入)，實(shí)現(xiàn)高測(cè)試吞吐量應(yīng)用設(shè)計(jì)/檢驗(yàn)電信和數(shù)據(jù)通信器件和系統(tǒng)  ITU/ANSI/IEEE/SONET/SDH制造/一致性測(cè)試  高性能真正差分TDR測(cè)量  串行數(shù)據(jù)應(yīng)用阻抗檢定和網(wǎng)絡(luò)分析，包括S參數(shù)  高級(jí)抖動(dòng)、噪聲和BER分析  通道和眼圖仿真及基于測(cè)量的SPICE模型