EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀是采用石英晶體振蕩原理，結(jié)合*的頻率測量技術(shù)，進行膜厚的在線監(jiān)測。主要應(yīng)用于MBE、OLED熱蒸發(fā)、磁控濺射等設(shè)備的薄膜制備過程中，用于對膜層厚度及鍍膜速率進行實時監(jiān)測。膜厚監(jiān)測儀根據(jù)制備薄膜的實時速率可以輸出PWM（脈沖寬度調(diào)制）模擬量，作為膜厚傳感器使用，與調(diào)節(jié)儀和蒸發(fā)電源配合實現(xiàn)蒸發(fā)源的閉環(huán)速率控制，從而檢測所制備薄膜的厚度。膜厚監(jiān)測儀體積小巧可節(jié)省實驗室空間，原理簡單，操作方便，尤其適合于實驗室中薄膜制備過程的使用。
EQ-TM106膜厚監(jiān)測儀
主要特點 | 1、本機可與計算機連接。 2、顯示儀具有界面簡潔、直觀、合理、操作方便快捷等優(yōu)點，可直觀顯示所測的膜厚、速率、頻率、PWM控制輸出的百分比等工作狀態(tài)。 3、通過軟件或顯示儀可對門控時間、輸出方式、速率算法、材料參數(shù)、輸出量程及通訊參數(shù)等進行設(shè)置，并可將所測相關(guān)數(shù)據(jù)寫入Excel文件。 4、具有體積超小、測量精度高、操作簡單、使用方便等優(yōu)點。 | ||
技術(shù)參數(shù) | EQ-TM106-1監(jiān)測組件 1、電源：DC 5V（±10%），zui大電流400mA 2、頻率分辨率：±0.03Hz 3、膜厚分辨率：0.0136Å（鋁） 4、膜厚準確度：±0.5%，取決于過程條件，特別是傳感器的位置，材料應(yīng)力，溫度和密度 5、測量速度：100ms-1s/次，可設(shè)置 6、測量范圍：500000Å（鋁） 7、標準傳感器晶體：6MHz 8、計算機接口：RS-232/485串行接口（波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可設(shè)置，數(shù)據(jù)位：8，停止位：1，校驗：無） 9、模擬輸出：8比te分辨率，PWM脈寬調(diào)制輸出（集電極開路或內(nèi)部5V輸出） 10、工作環(huán)境：溫度0-50℃，濕度5%-85%RH，不得有冷凝水珠 11、外形尺寸：90mm×50mm×18mm | ||
EQ-TM106-2顯示儀 1、輸入電源：AC 220V±10% 2、輸出電源：DC 5V 3A 3、顯示器：12×2數(shù)碼管與LED 4、通訊端口：RS-485（波特率1200、2400、4800、9600、19200、38400可設(shè)置，數(shù)據(jù)位：8位，停止位：1位，奇偶校驗：無） 5、外形尺寸：182mm×65mm×160mm | |||
EQ-TM106-3探頭 1、適用晶片頻率：6MHz 2、適用晶片尺寸：Ø14mm 3、安裝法蘭：CF35 4、冷卻水管：Ø3mm，長度300mm、500mm、1000mm 5、冷卻水壓：<0.3MPa 6、氣動擋板路管：Ø3mm 7、壓縮空氣壓力：<0.8MPa，>0.5MPa 8、烘烤溫度：通水狀態(tài)<200℃，不通水狀態(tài)法蘭<100℃ 9、電氣接口：BCN插座 | |||
