環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對器件的壽命測試環(huán)境進行控制。
其溫度控制范圍、濕度控制范圍和多層腔式均可根據(jù)客戶的需求訂制。

系統(tǒng)特點

避免高溫對硅光電測試影響的設(shè)計方案
硅光電二極管工作溫度范圍-20-70℃，并且隨著溫度的改變，硅光電二極管光電流轉(zhuǎn)換效率，以及暗態(tài)電流都會改變，直接造成相對 亮度測量不準確。即使是耐高低溫環(huán)境的硅光電二極管，但在*的高低溫環(huán)境下工作，也會*縮短其使用壽命。 為避免硅光電二極管的溫度影響因素，同時保證使用壽命，將硅光電放置在室溫環(huán)境的測試機柜內(nèi)部，通過光纖把高溫老化試驗箱內(nèi) 的器件發(fā)光傳導(dǎo)過來，進行測量。

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測試參數(shù)
溫度范圍： -40～100 ℃ （標準型，其它溫度范圍可訂制）
溫度均勻度：±2.0℃
溫度波動度： ± 0.5℃
溫度精度：1 ℃
升溫速度： 1.0～3.0℃/min
降溫速率： 0.7～1.2℃/min
濕度范圍：30%～98%RH （標準型，其它濕度范圍可訂制）
濕度波動度：±1.5％R.H
濕度偏差：±2.5％R.H

軟件功能
（1） 測量模式：恒壓、恒流、恒亮模式
（2） 測量數(shù)據(jù)：測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預(yù)估壽命、亮度衰減比、溫度
（3） 測量圖表：衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
（4） 測量時間：三個時間段設(shè)計，每個時間段可以分別設(shè)置測量時間間隔等參數(shù)
（5） 發(fā)光點測量的獨立性：每個發(fā)光點可以獨立設(shè)置電壓或電流等參數(shù)，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
（6） 光學(xué)壽命測量時,每個發(fā)光點可以獨立開始和停止測量,每個發(fā)光點均可設(shè)置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或 更換其中幾片產(chǎn)品
（7） 圖表實時查詢：支持圖表在測量過程中實時查詢，不必等待測量結(jié)束后再看數(shù)據(jù)和圖表
（8） 曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數(shù)據(jù)，在圖表里顯示曲線。