EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀儀器簡介：

通過位置精度較高的自動樣品臺和高靈敏度性能，可以對微小異物進行快速掃描和檢查，也可對電子基板等復合材料制品的微小特定部位實施定點精確測量。

EA6000VX能量色散型X射線熒光分析儀型號名稱：EA6000VX

X射線源：50kV、1mA、空冷式

檢測器：半導體檢測器（無需液氮）

一次濾波器：6種模式自動切換

準直器：0.2、0.5、1.2、3mm 自動切換

樣品室大?。篧580mm×D450mm×H150mm
                    可全面測量250mm×200mm樣品

特點：

1.快速掃描

憑借zui大150萬CPS的高計數(shù)率檢測器完成高靈敏度的測量，以及借助zui大250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動樣品臺，實現(xiàn)快速掃描測量。對于范圍為100 mm×100 mm的情況，可在2～3分鐘內(nèi)檢測出端子部分的鉛并確定其位置。

2.連續(xù)多點測量

zui多可500個測量位置進行連續(xù)多點測量。由于采用自動測量方式，因此在測量大量樣品是，也可發(fā)揮高效率。

3.高精密重合

通過Telecentric Lens 系統(tǒng)和高速?高精度XY平臺，將元素掃描像和光學成像進行重合對微小部品的中心部分的目標元素也能進行簡單觀察。zui大250 mm×200 mm上方觀察，并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置zui小誤差為100 μm以內(nèi)的精確定位。

4.微小部位測量

在FT系列中被*的測量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說極薄的鍍金等膜厚測量，即便是在進行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測量的同時也可進行膜厚測量。比如也可進行無鉛焊錫鍍層及引線框架上Sn鍍層，無電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測量。