布魯克 D8 達(dá)芬奇 X射線衍射儀

布魯克D8達(dá)芬奇X射線衍射儀

型號:D8 Advance

產(chǎn)地:德國

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計,通過TWIN-TWIN光路設(shè)計,成功實現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術(shù),使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用(常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應(yīng)用(織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū))的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

*的林克斯陣列探測器可以提高強(qiáng)度150倍,不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率, 而且大幅提高了設(shè)備的探測靈敏度。

技術(shù)指標(biāo): 

• Theta/theta 立式測角儀                              
• 2Theta角度范圍:-110～168°
• 角度精度:0.0001度                    
• Cr/Co/Cu靶,標(biāo)準(zhǔn)尺寸光管                  
• 探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  
• 儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            
• 重量:770kg     

應(yīng)用

• 物相定性分析
• 結(jié)晶度及非晶相含量分析
• 結(jié)構(gòu)精修及解析
• 物相定量分析
• 點陣參數(shù)精確測量
• 無標(biāo)樣定量分析
• 微觀應(yīng)變分析
• 晶粒尺寸分析
• 原位分析
• 殘余應(yīng)力
• 低角度介孔材料測量
• 織構(gòu)及ODF分析
• 薄膜掠入射
• 薄膜反射率測量
• 小角散射