HA4200 低本底γ能譜儀
HA4200低本底γ譜儀是一款基于數(shù)字化脈沖波形處理技術(shù)的核檢測(cè)儀器。采用高分辨率NaI(Tl)探測(cè)器,可定量分析建筑材料及其制品中的γ放射性和空氣、土壤中的氡氣含量,可用于無機(jī)非金屬材料如大理石、花崗巖、玻璃、陶瓷、水泥、磚瓦、砂石、混凝土及制品等放射性檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于海關(guān)檢驗(yàn)檢疫、建材、地礦、環(huán)保、疾控、科研機(jī)構(gòu)、高等院校、礦廠企業(yè)等領(lǐng)域和單位。
產(chǎn)品特色
- 快速無損測(cè)量,可直接對(duì)樣品進(jìn)行劑量測(cè)定和核素識(shí)別;
- 分體式低本底鉛室,有效屏蔽外界本底干擾;
- 對(duì)核素進(jìn)行分析,自動(dòng)計(jì)算放射性核素含量及內(nèi)外照射指數(shù);
- 斷電自動(dòng)保存當(dāng)前測(cè)量譜圖,并支持?jǐn)帱c(diǎn)續(xù)采;
- 自動(dòng)采譜,引導(dǎo)性測(cè)量分析,操作簡(jiǎn)單,方便使用
技術(shù)參數(shù)
- 探測(cè)器: NaI(Tl)晶體;
- 能量分辨率:≤7.2% (@661.5keV,Cs-137);
- 能量范圍:30keV~3MeV(10MeV可選);
- 本底計(jì)數(shù):<5cps;
- MCA多道分析器:1024 道或2048道;
- 微分非線性:<0.05%;
- 積分非線性:<0.10%;
- 穩(wěn)定性:24小時(shí)峰漂移≤±1.0%;
- 測(cè)量元素范圍:Ra、Th、K、Rn. 137Cs、241Am等多種放射性核素,可按照用戶要求添加;
- 支持定制,滿足不同用戶使用需求。
*技術(shù)說明,如有更改,恕不另行通知。