環(huán)保是世界的潮流,不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件,如近日的陜西鳳翔的血鉛超標(biāo)事件,使人們?nèi)找骊P(guān)注自身的健康,關(guān)注有害元素對人的危害,世界各國都陸續(xù)出臺了相 關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī),而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢,例如,2006年7月1日實施的歐盟RoHS指令中鉛元素限制值是 1000ppm,近期實施的美國消費(fèi)品安全法(簡稱CPSIA),鉛元素限制值降低到90ppm。面對這市場需求,秉承“天瑞儀器,無微不至”的精神,采 用新技術(shù),特別設(shè)計了SUPER系列的XRFX熒光光譜儀。
技術(shù)參數(shù)
1、 元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
2、 分析含量一般為1ppm到99.9%。
3、 有害元素檢出限比普通的臺式X熒光光譜儀有*的提高。
4、 多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%。
5、 *工作穩(wěn)定性為0.1%。
6、 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
7、 電源。交流220V±5V。建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
主要特點
1. 采用天瑞技術(shù)――*的激發(fā)X光源,樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng),大大提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限);
2. 具有現(xiàn)代化的外觀,結(jié)構(gòu)和色彩,上蓋電動控制開關(guān),更人性化;
3. 準(zhǔn)直器,濾光片自動切換,可適應(yīng)不同的樣品測試要求;
4. 大容量的樣品腔和高清攝像頭,樣品測量更靈活方便;
5.配備功能齊全的測試軟件。
性能參數(shù)
產(chǎn)品型號:EDX 4500
產(chǎn)品名稱:XRF熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:60秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
性能特點
高效超薄窗X光管,指標(biāo)達(dá)到*水平
新的數(shù)字多道技術(shù),讓測試更快,計數(shù)率達(dá)到100000CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴(kuò)展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu),力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測(RoHS、鹵素等)
廠家介紹
江 蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)XRF熒光光譜儀生產(chǎn)廠家,產(chǎn)品包括:ROHS檢測儀,直讀光譜儀,手持式光譜儀,ROHS檢測設(shè)備,手持式合金分析儀,氣相 質(zhì)譜儀,液相質(zhì)譜儀,原子熒光光譜儀,手持式光譜儀,等離子體質(zhì)譜儀, 鍍層膜厚測試儀,X熒光測厚儀,ROHS儀器,氣質(zhì)聯(lián)用儀,液質(zhì)聯(lián)用儀,ROHS鹵素檢測儀,x熒光光譜分析儀,手持式光譜分析儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀, 液相質(zhì)譜聯(lián)用儀,便攜式合金分析儀,ROHS測試儀,x-ray鍍層測厚儀,環(huán)保ROHS檢測儀,X光測厚儀,鍍層測厚儀。