X-RAY熒光光譜儀屬于*的分析檢測儀器，隨著半導體微電子技術(shù)和計算機技術(shù)的飛速發(fā)展，傳統(tǒng)的光學、熱學、電化學、色譜、波譜類分析技術(shù)都已從經(jīng)典的化學精密機械電子學結(jié)構(gòu)、實驗室內(nèi)人工操作應(yīng)用模式，轉(zhuǎn)化成光、機、電、算（計算機）一體化、自動化的結(jié)構(gòu)，并向智能化、小型化、在線式及儀器聯(lián)用方向發(fā)展。天瑞公司在以已掌握的成熟的臺式X熒光光譜儀技術(shù)為基礎(chǔ)，結(jié)合國外相關(guān)新的技術(shù)發(fā)展成果，研制出具有自主知識產(chǎn)權(quán)的EDX 3600K型X熒光光譜儀。

X-RAY熒光光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域

專為粉未冶煉行業(yè)研發(fā)的一款設(shè)備，主要應(yīng)用在水泥冶煉、鋼鐵冶煉、礦冶煉(銅礦、鉛礦等)、鋁冶煉、玻璃制造、耐火材料分析、各種粉未冶金分析行業(yè)、石油勘探錄井分析領(lǐng)域。
同時在地質(zhì)、礦樣、冶金、稀土材料、環(huán)境監(jiān)測、有色金屬、食品、農(nóng)業(yè)等科研院所、大專院校和工礦企業(yè)中也得到廣泛應(yīng)用。

性能優(yōu)勢

1.超低能量分辨率，輕元素檢測效果更佳
使用大面積鈹窗電致冷SDD探測器，探測器分辨率達到139eV，各項指標優(yōu)于國家標準。SDD探測器具有良好的能量線
性、良好的能量分辨率，及良好的能譜特性，較高的峰背比；對Si、S、AI等輕元素的測試具有良好的分析精度。

2. 測試精度更高，檢出限更低
①專業(yè)化的樣品腔設(shè)計，帶可調(diào)速的自旋樣品腔，能有效的測定輕元素和減少樣品均一性的影響，提高樣品的測試精度。
②采用超小超真空的樣品腔設(shè)計，保證測試時達到10Pa以下，使設(shè)備的測試范圍可從F元素起測試，大大地提高測試范圍、輕元素檢出限和精度。

3. 分析速度更快，從第1秒即可得到定性定量結(jié)果
采用自主研發(fā)的數(shù)字多道技術(shù)，其線性計數(shù)率可達100kcps，可以更加快速的分析，從第1秒就可以得出定性定量結(jié)果，
設(shè)計成高計數(shù)率，大大提高了設(shè)備的穩(wěn)定性。

4. 一鍵式智能化操作
專業(yè)軟件，*的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化的應(yīng)用軟件，具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作，使操作簡易，對操作人員限制小的特點。

5. 強大的自動化功能
①自動化程度高，具有自動開蓋、自動切換準直器與濾光片等功能。
②采用自動穩(wěn)譜裝置，保證了儀器工作的*性：利用解譜技術(shù)使譜峰分解，采用多參數(shù)的線性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

6. 強度校正法
具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式的自由添加，內(nèi)置強度校正方法，可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

7. 完善的光路系統(tǒng)
自主研發(fā)的光路系統(tǒng)，光程更短，光路損失更少，激發(fā)效果更佳。

8. 三重安全防護功能
三重安全防護功能，自動感應(yīng)，沒有樣品時儀器不工作，無射線泄漏；加厚防護測試壁；配送測試防護安全罩。

9. 安全提醒系統(tǒng)
警告指示系統(tǒng)，通電時綠色指示燈亮，測試時黃色輻射指示燈閃爍，防止誤操作。

定性與定量分析

（一）、定性分析
定性分析是X熒光光譜分析的基礎(chǔ)，因為只有從儀器獲得的譜圖中辨認峰譜，才能知道待測試樣中還有那些元素，并且分析待測元素的主要譜線，以及常見的干擾譜線，以便選擇合適的測量譜線，用于定量分析方法，確定譜線的重疊校正方法，選擇校正元素，終達到準確測試樣品的效果。
定性分析的方法：
1、 判斷儀器的能量刻度是否正確，可以用已知元素的樣品進行測試，觀察是否能夠正確識別樣品中的元素。如果不正確，需要重新建立能量刻度。
2、 首先判斷X光管靶材的特征峰位。其峰位處的峰譜，可能不是樣品所含有的元素。
3、 分辨元素峰譜的K線和L線，一般情況下，52＃（Te，碲）元素以前的元素，大多測試其K線，但35?！?2#之間的元素，其L線也可以被檢測出來，同時它的L線會對輕元素測量產(chǎn)生影響。52＃以后的元素一般測試其L線。
4、 K線一般有K線必然有K線，線的強度比例在5:1左右，L線必然有L、L…等4條線，在判斷是否是某元素時必須考慮這一因素。
5、 觀察各個線之間的干擾，找到干擾的元素線系，并確定重疊干擾線之間的影響程度。
 
（二）、定量分析
X熒光的定量分析可以簡化為以下公式，它受四種因素影響：
 Ci＝KiIiMiSi
式中：C為待測元素的濃度，下標I式待測元素；K為儀器的校正因子；I式測得的待測元素X射線熒光強度，經(jīng)過背景、譜重疊和死時間校正后，獲得的純強度。M式元素間的吸收和增強效應(yīng)校正。S與樣品的物理形態(tài)有關(guān)，如試樣的均勻性、厚度、表面結(jié)果等，要通過制樣來消除。
根據(jù)以上的簡化公式，可以將定量分析的方法分為以下幾個步驟：
①     根據(jù)樣品的物理形態(tài)和對分析精度與準確度要求，決定采用何種的制樣方法。確定了制樣方法后，應(yīng)了解制樣的誤差主要因素，應(yīng)該在方法中加以注意。
②     用標準樣品確定的分析條件，如：X射線管的管壓，管流，原級譜濾光片，測量時間等。
③     確定強度的提取方法。
④     制作工作曲線。
⑤     用標準樣品驗證分析方法的可靠性及分析數(shù)據(jù)的不確定度。