小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱,微型可程式高低溫箱簡介:
小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱是模擬GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件、GB/T10589-2008低溫試驗(yàn)箱等技術(shù)條件;GB/T11158-2008高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件制造,主要為航天、hang空、石油、化工、軍事、汽車(摩托車)、船舶、電子、通訊等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境,模擬試品在溫濕度變化環(huán)境條件下加載模擬振動(dòng)的適應(yīng)性試驗(yàn)及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等。
小型恒溫恒濕試驗(yàn)箱,微型可程式高低溫箱主要技術(shù)參數(shù):
工作室尺寸:300×300×335mm (深×寬×高)
試品尺寸:小于250*250*300
外形尺寸:460×810×885 (深×寬×高)
溫度范圍:-120/-75/-40℃~+150℃
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
溫度均勻度: ≤±2℃
溫度偏差: ≤±2℃
升溫速率: -120℃到+150℃≤60min
降溫速率: 25℃到-120℃,≤120min
濕度范圍: 20%到98%
濕度偏差 :≤±3%RH (>75%RH) ;≤±5%RH (≤75%RH)
濕度波動(dòng)度: ≤±2%RH
微型可程式高低溫箱滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB10592-2008高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;
GB/T 2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法;
GB/T 2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法;
GB/T 2423.3-2006電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Cab: 恒定濕熱試驗(yàn)方法;
GB/T 2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)Db: 交變濕熱;
GJB150.3高溫試驗(yàn);
GJB150.4低溫試驗(yàn);
GJB150.9濕熱試驗(yàn);