J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)（LA）應(yīng)用于生物醫(yī)學(xué)、半導(dǎo)體、環(huán)境和國防領(lǐng)域，ASI公司具有80多年LIBS技術(shù)的研究經(jīng)驗及其團隊在激光剝蝕領(lǐng)域具有很高的聲望，對于激光、光譜儀器、成像系統(tǒng)、計算及電子器件具有豐富的經(jīng)驗，發(fā)表學(xué)術(shù)論文300余篇，其本人從事激光與材料相互作用機理及相關(guān)應(yīng)用研究達30余年，J200飛秒激光進樣系統(tǒng)可與市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀、飛行時間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見質(zhì)譜儀聯(lián)用。

設(shè)備優(yōu)勢：
1、J200飛秒激光進樣系統(tǒng)可與市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀；
2、飛秒激光源技術(shù)已經(jīng)應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域；
3、組裝方式簡單，方便對輸氣管道進行定期清理；
4、主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度剖析、元素映射，等等；
5、數(shù)字化質(zhì)量流量控制器和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送；
6、配備了雙高分辨率CMOS成像攝像機，J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)可以提供廣角視野和高倍成像；
7、系統(tǒng)采用了一種自動調(diào)高傳感器，該傳感器的設(shè)計考慮到了樣品表面的形態(tài)變化。

樣品可視化：

軟件特點：

J200飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng)（LA）術(shù)可靠性提升到一個新高度，可應(yīng)用于礦物元素定量分析、鋯石U-Pb定年、礦物熔體和流體包裹體分析、微區(qū)同位素分析和定年技術(shù)研究等地質(zhì)研究領(lǐng)域，并在所有采樣點上實現(xiàn)一致的激光剝蝕，這一創(chuàng)新的傳感器特性是由應(yīng)用光譜公司的科學(xué)團隊研發(fā)的一項技術(shù)，具備三種照明模式來提高圖像質(zhì)量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光，光的強度和顏色可控。