1.快速掃描
X射線(xiàn)熒光元素分析儀憑借150萬(wàn)CPS的高計(jì)數(shù)率檢測(cè)器完成高靈敏度的測(cè)量,以及借助250 mm×200 mm范圍掃描的快速電動(dòng)樣品臺(tái),實(shí)現(xiàn)快速掃描測(cè)量。對(duì)于范圍為100 mm×100 mm的情況,可在2~3分鐘內(nèi)檢測(cè)出端子部分的鉛并確定其位置。
2. 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
可500個(gè)測(cè)量位置進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量。由于采用自動(dòng)測(cè)量方式,因此在測(cè)量大量樣品是,也可發(fā)揮高效率。
3. 高精密重合
X射線(xiàn)熒光元素分析儀通過(guò)Telecentric Lens 系統(tǒng)和高速?高精度XY平臺(tái),將元素掃描像和光學(xué)成像進(jìn)行重合對(duì)微小部品的中心部分的目標(biāo)元素也能進(jìn)行簡(jiǎn)單觀察。大250 mm×200 mm上方觀察,并且能夠?qū)崿F(xiàn)廣域位置誤差為100 µm以?xún)?nèi)的精確定位。
4. 微小部位測(cè)量
在FT系列中被*的測(cè)量鍍膜膜厚儀器就是由EA6000VX。不用說(shuō)極薄的鍍金等膜厚測(cè)量,即便是在進(jìn)行鍍膜鐘所含的Pb等有害物質(zhì)分析的膜壓測(cè)量的同時(shí)也可進(jìn)行膜厚測(cè)量。比如也可進(jìn)行無(wú)鉛焊錫鍍層及引線(xiàn)框架上Sn鍍層,無(wú)電解Ni鍍膜中所含的有害物質(zhì)的濃度測(cè)量。
5. 環(huán)境中限制物的測(cè)量
RoHS等限制物的高靈敏度測(cè)量,短時(shí)間內(nèi)測(cè)出樹(shù)脂、金屬等中含有的微量環(huán)境限制物。對(duì)復(fù)合樣品也可專(zhuān)注到特定部位進(jìn)行測(cè)量。
6. 輕元素測(cè)量
通過(guò)安裝充氦選購(gòu)項(xiàng),可以分析鈉開(kāi)始的輕元素。測(cè)量中能夠獨(dú)立運(yùn)轉(zhuǎn)的氦氣系統(tǒng)。將使用成本化降低。