SEM 高溫疲勞試驗機(jī)
:SEM高溫疲勞試驗機(jī)是帶掃描電子顯微鏡的疲勞試驗機(jī)。用于在疲勞試驗過程中動態(tài)時實(shí)觀測樣品表面的微觀破壞。可進(jìn)行拉-拉、拉-壓、三點(diǎn)彎曲疲勞試驗及800℃以下的高溫試驗。
特 點(diǎn)：
· 電子顯微鏡SEM與試驗機(jī)采用一體化結(jié)構(gòu)，具有高防振效果。
· 可以在利用SEM觀察的同時，進(jìn)行裂紋擴(kuò)展觀察試驗。
· 可以在常溫～800℃溫度范圍內(nèi)，重復(fù)向樣品加載。
· 試驗過程中，可以使SEM的視野與樣品的變形同步。
規(guī) 格：
· 試驗載荷：±5KN
· 位移范圍：±10mm
· 試驗溫度：室溫～800℃
· SEM分辨率：3.4nm
· 放大倍率：×20～30萬倍
· 觀測范圍：6mm～16mm
用 途：
適合金屬、陶瓷、巖石材料的常溫、高溫疲勞性能測試和樣品表面形貌、裂紋擴(kuò)展的測試。
