CSK-IIA系列試塊 - NB/T47013-2015 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè)超聲波探傷 CSK-IIA系列試塊- NB/T47013-2015
該類試塊依據(jù)承壓設(shè)備I型焊接接頭超聲檢測(cè)要求而設(shè)計(jì)，適用于將斜探頭、直探頭檢測(cè)工件厚度范圍為6mm～200mm的Ⅰ型焊接接頭。試塊設(shè)計(jì)內(nèi)容見(jiàn)下表：
縱波靈敏度設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的直探頭置于示意圖中g位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，。探頭置于示意圖中h位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中k位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中L位置，前后左右移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線，此時(shí)的靈敏度即為基準(zhǔn)靈敏度。CSK-ⅡA-1#測(cè)試方法：（1）橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置，前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置，前后移動(dòng)探頭使1次反射聲束在φ2×40mm橫孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。將以上六點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。
CSK-ⅡA-2#測(cè)試方法：（1）橫波靈敏度的設(shè)定：將選用已校驗(yàn)好的的斜探頭置于示意圖中a位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為點(diǎn)。探頭置于示意圖中b位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第二點(diǎn)。探頭置于示意圖中c位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第三點(diǎn)。探頭置于示意圖中d位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第四點(diǎn)。探頭置于示意圖中e位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第五點(diǎn)。探頭置于示意圖中f位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第六點(diǎn)。探頭置于示意圖中g(shù)位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第七點(diǎn)。探頭置于示意圖中h位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第八點(diǎn)。探頭置于示意圖中i位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第九點(diǎn)。探頭置于示意圖中j位置，前后移動(dòng)探頭使直射聲束在φ2mm橫通孔上得到反射回波。將回波幅度調(diào)整至滿屏的80%高度，記錄此時(shí)的dB值，此為第十點(diǎn)。將以上十點(diǎn)連成一條曲線即為標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的基準(zhǔn)線。
試塊 | CSK-IA |
試塊支架 | CSK-IA |
試塊翻轉(zhuǎn)架 | CSK-IA |
試塊 | CSK-ⅡA |
試塊 | CSK-ⅢA |
試塊翻轉(zhuǎn)架 | CSK-ⅢA |
試塊 | CSK-ⅢA |
試塊 | CSK-IVA |
超聲波試塊 | CSK-IIAm |
GS標(biāo)準(zhǔn)試塊 | |
試塊 | CSK-IB |
試塊支架 | CSK-IB |
試塊 | RB-1 |
試塊 | RB-2 |
試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-2 |
試塊 | RB-3 |
試塊翻轉(zhuǎn)架 | RB-3 |
試塊 | RB-T |
試塊 | RB-Z |
小徑管試塊 | DL-1 |
小徑管試塊 | DL-1 |
平面對(duì)比試塊 | |
曲面對(duì)比試塊 | |
荷蘭試塊 | V-1（IIW1） |
試塊支架 | V-1 |
牛角試塊 | V-2（IIW2） |
靈敏度試塊 | CS-2 |
超聲波試塊 | CS-1-5# |
超聲波試塊 | LA-1 |
超聲波試塊 | LA-2 |
試塊 | SD-I |
試塊 | SD-IIa、b |
試塊 | SD-III |
試塊 | SD-IV |
試塊 | TP-1 |
試塊 | TP-2 |
試塊 | TP-3 |
半圓試塊 | SH-1 |
靈敏度試塊 | CS-1 |
護(hù)環(huán)試塊 | A |
石油標(biāo)準(zhǔn)試塊 | SGB1#-6# |
階梯試塊（射線用） | |
鋼網(wǎng)架試塊 | CSK-IC |
鋼網(wǎng)架試塊 | RBJ-1 |
螺栓試塊 | LS-1 |
螺栓試塊 | LS-2 |
TOFD對(duì)比試塊 | T=15mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=21mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=30mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=43mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=62mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=88mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=122mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=160mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=203mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=250mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=300mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=350mm |
TOFD對(duì)比試塊 | T=400mm |
盲區(qū)試塊 | T=40mm |
盲區(qū)試塊 | T=60mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=15mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=21mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=30mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=43mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=62mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=88mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=122mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=160mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=203mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=250mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=300mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=350mm |
TOFD模擬焊縫試塊 | T=400mm |
CSK-IIA系列試塊- NB/T47013-2015
