FTIR傅立葉變換紅外分光光度計(jì)FT/IR-4000andFT/IR-6000Series
◆日本分光FTIR的概要新型FT/IR-4000、6000系列、通過(guò)硬盤(pán)的化以及高靈敏度、高安定和測(cè)量程序的更新，達(dá)到了操作性的提高。FTIR通過(guò)硬件和軟件高水平融合大大消減了測(cè)量所需工夫和時(shí)間。
硬件采用以往產(chǎn)品中積累的24位A/D轉(zhuǎn)換器低噪音電氣系統(tǒng)的高靈敏度以及DSP技術(shù)的高準(zhǔn)確度的移動(dòng)鏡控制、通過(guò)角隅棱鏡可以提高安定性，在短時(shí)間內(nèi)得到高品位的光譜。另外通過(guò)重組的測(cè)定程序進(jìn)行即時(shí)數(shù)據(jù)處理功能、預(yù)掃描時(shí)可以設(shè)定的測(cè)量以及解析條件、可消減測(cè)量后的數(shù)據(jù)處理的工夫和時(shí)間。
◆多量程測(cè)量
多量程測(cè)量（FT/IR-6000series)
自動(dòng)BS交換組和自動(dòng)窗切換組、或者自動(dòng)接口閥組的結(jié)合、可在真空狀態(tài)下自動(dòng)連續(xù)測(cè)量寬波數(shù)范圍。
◆FT/IR-4000系列的特征
●大型樣品室
●免維護(hù)光學(xué)系統(tǒng)
●可以安裝高靈敏度檢測(cè)器
●標(biāo)配自動(dòng)驗(yàn)證功能
◆FT/IR-6000系列的特征
●信噪比55000：1（FT/IR-6800）
●快速掃描測(cè)量
●進(jìn)掃描測(cè)量
●測(cè)量波數(shù)可擴(kuò)展為25000cm-1～10cm－1
●可對(duì)應(yīng)真空
◆重組軟件
▼概要
除了光譜測(cè)量、推薦測(cè)量、觀測(cè)圖比較、定量等多種測(cè)量功能以外、還有即時(shí)數(shù)據(jù)處理、縮放工具欄、縮略圖等新的功能、提供舒適的操作性。另外、可根據(jù)使用目的構(gòu)建專(zhuān)用畫(huà)面。
▼即時(shí)數(shù)據(jù)處理
根據(jù)即時(shí)數(shù)據(jù)處理、可設(shè)定的數(shù)據(jù)處理。
1、顯示測(cè)量信息、測(cè)量條件、數(shù)據(jù)處理的順序
2、確認(rèn)光譜比較（定性）定量的結(jié)果
3、通過(guò)自我診斷、隨時(shí)檢查裝置的狀態(tài)
4、通過(guò)即時(shí)數(shù)據(jù)處理功能、確認(rèn)測(cè)量中的數(shù)據(jù)處理結(jié)果、測(cè)量中可以和以前測(cè)量的數(shù)據(jù)疊加
5、通過(guò)縮略功能可以瞬時(shí)確認(rèn)目標(biāo)波峰以及官能基信息
6、測(cè)得的光譜登陸到縮略圖、通過(guò)鼠標(biāo)操作光譜視圖可實(shí)現(xiàn)光譜的疊加
▼Sadtler的檢索以及部分結(jié)構(gòu)解析支援程序
◆紅外顯微鏡
IRT-7200詳細(xì)信息
▼IRT-7200
紅外分析的成像測(cè)量對(duì)樣品的化學(xué)構(gòu)造可視化分析是的。使用單素子檢測(cè)器的紅外顯微鏡和自動(dòng)樣品臺(tái)組合也可以進(jìn)行映射測(cè)量、但是缺點(diǎn)是構(gòu)造的原因?qū)е聹y(cè)量時(shí)間過(guò)長(zhǎng)。IRT-7200搭載16通道的MCT型線(xiàn)性陣列檢測(cè)器、和高速樣品臺(tái)組合測(cè)量時(shí)間是過(guò)去的測(cè)量方法的1/100。
IRT-5200詳細(xì)信息
紅外分光光度計(jì)是各個(gè)領(lǐng)域通用的分析裝置。其中，在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)，品質(zhì)管理以及生物制藥等領(lǐng)域微小區(qū)域的紅外分光分析是的方法，并且要求高性能，高功能化。IRT-5200是為了滿(mǎn)足這種需要而誕生的紅外顯微鏡。智能映射功能的手動(dòng)樣品臺(tái)也可以測(cè)量映射。
IRT-1000詳細(xì)信息
Irtronμ是微型樣品取樣配件，是為了滿(mǎn)足微小，微量樣品的取樣而誕生的。紅外顯微鏡所必需的功能都濃縮到小巧的機(jī)箱中、實(shí)現(xiàn)小型、輕量、低價(jià)。因?yàn)槭前惭b在FTIR主機(jī)的樣品室內(nèi)、所以和其他的配件一樣比較容易安裝和拆卸。
◆FTIR用配件
ATRPROONE
▼ATR（全反射吸収測(cè)量）
光從折射率的大的物質(zhì)(棱鏡)到小的物質(zhì)(樣品)時(shí)，如果入射角比臨界角大就會(huì)發(fā)生全反射。讓樣品緊貼棱鏡的表面若干滲入試料表面表層部的話(huà)，就會(huì)被吸收發(fā)生全反射。利用這個(gè)全反射光可得到表層部的吸收光譜。
ATRPROONE使用微小的棱鏡，粘接性好，并且因?yàn)榕c樣品的接觸面積小所以甚至能測(cè)量比較小的樣品以及表面粗糙樣品。棱鏡的種類(lèi)有三種，ZnSe，Ge，鉆石，鉆石的棱鏡有兩種，一種為表面涂反射防止膜的高通量類(lèi)型和沒(méi)有涂膜的可測(cè)量到30cm-1的類(lèi)型。
光照在粉末樣品上，光的一部分在粒子表面產(chǎn)生正反射，其他的光進(jìn)入樣品內(nèi)部，在粒子里重復(fù)透過(guò)，反射，散亂后射出。測(cè)量這種擴(kuò)散反射光的方法成為漫反射法。
◆規(guī)格
▼FT/IR-4600/4700
| 型號(hào)名稱(chēng) | 4600 | 4700 |
| 測(cè)量波數(shù)范圍 | 7800～350cm-1 | |
| 測(cè)量波數(shù)擴(kuò)張范圍*1 | 15000～2200cm-1、5000～220cm-1 | |
| 分辨率 | 0.7cm-1 | 0.4cm-1 |
| S N 比 | 25000:1 | 35000:1 |
| 檢測(cè)器 （選項(xiàng)） | DLATGS（帶溫控） (MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs) | |
| 分光器 （選項(xiàng)） | Ge/KBr (Si/CaF2、Ge/CsI) | |
| 光源 （選項(xiàng)） | 高光譜線(xiàn)陶瓷光源 (鹵素?zé)? | |
| 干渉儀 | 45゜入射麥克爾遜干涉儀 角隅棱鏡、自動(dòng)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)、DSP控制密閉型 | |
| 吹掃 | 干渉儀、樣品室、檢測(cè)器部對(duì)應(yīng) | |
| 快速掃描 | 選項(xiàng)0Hz、16cm-1) | |
| 主機(jī) | 尺寸60（W）×645（D）×290（H）mm（主機(jī)） 重量33kg（主機(jī)） | |
| 型號(hào)名稱(chēng) | 6600 | 6700 | 6800 |
| 測(cè)定波數(shù)範(fàn)囲 | 7800～350cm-1 | ||
| 測(cè)量波數(shù)擴(kuò)張范圍 | 25000～10cm-1 | ||
| 分辨率 | 0.4cm-1 | 0.25cm-1 | 0.07cm-1 |
| S N 比 | 45000:1 | 47000:1 | 55000:1 |
| 檢測(cè)器 （選項(xiàng)） | DLATGS（帶溫調(diào)） MCT-N、MCT-M、MCT-W、Si光電二極管、InSb、InGaAs DLATGS（PE窗）、Si輻射熱測(cè)量計(jì) | ||
| 分光器 （選項(xiàng)） | Ge/KBr (寬帶域Quartz、Si/CaF2、寬帶域KBr、Ge/CsI 麥拉（5、12、25、50μm、寬帶域型）(選項(xiàng)：自動(dòng)BS交換組) | ||
| 光源 （選項(xiàng)） | 高光譜線(xiàn)陶瓷光源 鹵素?zé)?、水冷式高圧水銀光源 | ||
| 干渉儀 | 28゜入射麥克爾遜干涉儀 使用角隅棱鏡、自動(dòng)校準(zhǔn)機(jī)構(gòu)、DSP控制密閉型 | ||
| 對(duì)應(yīng)真空密閉 | 選項(xiàng) | ||
| 吹掃 | 干渉儀、樣品室、檢測(cè)器部對(duì)應(yīng) | ||
| 快速掃描 | 選項(xiàng)（20Hz、16cm-1) | 標(biāo)準(zhǔn)（20Hz、16cm-1) | |
| 步進(jìn)掃描 | 選項(xiàng) | ||
| 主機(jī) | 尺寸：600（W）×670（D）×315（H）mm（主機(jī)） 重量：約56kg（主機(jī)） | ||
