共焦顯微拉曼光譜儀：
主要特點(diǎn)：
1、靈敏度遠(yuǎn)高于其它同類拉曼譜儀，模塊化設(shè)計(jì)，波長(zhǎng)可任意選擇，配置靈活， 升級(jí)容易。
2、所有傳動(dòng)部件均采用光柵尺閉環(huán)控制，儀器精度和重復(fù)性比其它同類光譜儀 提高了一個(gè)數(shù)量級(jí)。
3、可一次連續(xù)掃描大范圍的拉曼光譜（），無需接譜，無需使用低分辨率 光柵。
4、受保護(hù)的的顯微共焦系統(tǒng)，可連續(xù)調(diào)節(jié)共焦深度，并大大提高了儀 器的光通量和穩(wěn)定性。
5、受保護(hù)的拉曼或熒光信號(hào)一次直接成像，迅速獲得材料的空間分布。
原子力顯微鏡：
主要特點(diǎn)：
Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的 AFM 應(yīng)用體驗(yàn)，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡(jiǎn)便易行。仍然以世界上應(yīng)用泛的 AFM 大樣品平臺(tái)為基礎(chǔ)，齊集 Dimension 系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。
Dimension® Icon™優(yōu)秀的圖像分辨率，與 Bruker *的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺(tái)原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位，的 Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了 Z 軸亞埃級(jí)和 XY 軸埃級(jí)的低噪音水平，將其應(yīng)用在90 微米掃描范圍的大樣品臺(tái)體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺(tái) AFM 的開環(huán)噪音水平。全新設(shè)計(jì)的 XYZ 閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會(huì)損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。
拉曼-原子力顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)：
您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯(lián)用，在納米尺度上研究材料的組成、結(jié)構(gòu)和特性。
聯(lián)用系統(tǒng)優(yōu)勢(shì)：
原位測(cè)量。無需在不同儀器之間移動(dòng)樣品，節(jié)約時(shí)間，保證正確的分析區(qū)域。
inVia和SPM/AFM可同時(shí)作為獨(dú)立系統(tǒng)使用，而不會(huì)影響兩者的任何性能。
得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關(guān)物理特性。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識(shí)別材料和非金屬化合物。
可實(shí)現(xiàn)針尖增強(qiáng)拉曼測(cè)量（TERS），獲得納米尺度的化學(xué)信息。
選擇系統(tǒng)：
雷尼紹特殊設(shè)計(jì)的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學(xué)整合。inVia具有極大的靈活性，能夠?qū)⑵渲苯玉詈系饺缦鹿?yīng)商的各種AFM和SPM上：
· Bruker Nano Surfaces
· Nanonics
· NT-MDT
· JPK
· Par
· NT-MDT
· JPK
· Par
