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高分辨率熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡

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公司名稱(chēng)上海杜美精密儀器有限公司
品牌
型號(hào)Apreo
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2021/6/28 16:45:10
訪問(wèn)次數(shù)453

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上海杜美精密儀器有限公司位于*園區(qū)一上海市上海大學(xué)科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)內(nèi)，是一家專(zhuān)業(yè)經(jīng)營(yíng)國(guó)內(nèi)外理化分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備以及技術(shù)開(kāi)發(fā)的股份制公司。公司擁有一批經(jīng)驗(yàn)豐富，理論基礎(chǔ)深厚的高科技專(zhuān)業(yè)人才，現(xiàn)有3名教授作為技術(shù)指導(dǎo)顧問(wèn)，碩士5名，本科以上學(xué)歷占總?cè)藬?shù)90%。公司成立以來(lái)，已為眾多國(guó)內(nèi)外生產(chǎn)企業(yè)、高等院校以及科研機(jī)構(gòu)配備了*的理化分析測(cè)試儀器。我們、用戶(hù)、”的宗旨，一如既往地為廣大新老客戶(hù)提供優(yōu)異的產(chǎn)品和良好的服務(wù)。本公司以?xún)?yōu)質(zhì)的產(chǎn)品、合理的價(jià)格、周到的專(zhuān)業(yè)服務(wù)為各行各業(yè)提供實(shí)驗(yàn)室建設(shè)、設(shè)備選型、調(diào)試安裝、維修及相關(guān)的技術(shù)拓展業(yè)務(wù)。真誠(chéng)歡迎各界朋友、新老客戶(hù)來(lái)本公司參觀、指導(dǎo)、洽談業(yè)務(wù)。本公司將竭誠(chéng)為多層次、寬領(lǐng)域的優(yōu)、用戶(hù)、

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掃描電子顯微鏡Apreo功能豐富的高性能SEMApreo復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生高分辨率和信號(hào)選擇

高分辨率熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

掃描電子顯微鏡

Apreo

功能豐富的高性能 SEM

Apreo 復(fù)合透鏡設(shè)計(jì)結(jié)合了靜電和磁浸沒(méi)技術(shù)，可產(chǎn)生高分辨率和信號(hào)選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的研究平臺(tái)，并且不會(huì)降低磁性樣品性能。

Apreo 受益于透鏡內(nèi)背散射探測(cè)，這種探測(cè)提供很好的材料對(duì)比度，即使在傾斜、工作距離很短或用于敏感樣品時(shí)也不例外。新型復(fù)合透鏡通過(guò)能量過(guò)濾進(jìn)一步提高了對(duì)比度并增加了用于絕緣樣品成像的電荷過(guò)濾?？蛇x低真空模式現(xiàn)在的樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa，可以對(duì)要求嚴(yán)苛的絕緣體進(jìn)行成像。

通過(guò)這些優(yōu)勢(shì)（包括復(fù)合末級(jí)透鏡、高級(jí)探測(cè)和靈活樣品處理），Apreo 可提供出色的性能和多功能性，幫助您應(yīng)對(duì)未來(lái)的研究難題。

Apreo 材料科學(xué)應(yīng)用

新的 Apreo 掃描電子顯微鏡 (SEM) 可對(duì)納米顆粒、金屬、復(fù)合材料和涂層等多種材料進(jìn)行檢測(cè)，并且整合了創(chuàng)新功能，可提供更好的分辨率、對(duì)比度和易用性。

的復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測(cè)量時(shí)）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無(wú)需進(jìn)行電子束減速。
背散射探測(cè) - 始終保證良好的材料對(duì)比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
探測(cè)器 - 可將各個(gè)探測(cè)器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。

體驗(yàn) Apreo SEM 帶來(lái)的優(yōu)勢(shì)

復(fù)合末級(jí)透鏡可在任何樣品（即使在傾斜時(shí)或進(jìn)行地形測(cè)量時(shí)）上提供優(yōu)異的分辨率（1 kV 電壓下為 1.0 nm），而無(wú)需進(jìn)行電子束減速。
背散射探測(cè) - 始終保證良好的材料對(duì)比度，即使以低電壓和電子束電流并以任何傾斜角度對(duì)電子束敏感樣品進(jìn)行 TV 速率成像時(shí)也不例外。
探測(cè)器 - 可將各個(gè)探測(cè)器部分提供的信息相結(jié)合，獲得至關(guān)重要的對(duì)比度或信號(hào)強(qiáng)度。
多種電荷緩解策略，包括樣品倉(cāng)壓力為 500 Pa 的低真空模式，可實(shí)現(xiàn)任何樣品的成像。
分析平臺(tái)：提供高電子束電流，而且光斑很小。樣品倉(cāng)支持三個(gè) EDS 探測(cè)器、共面的 EDS 和 EBSD 以及針對(duì)分析進(jìn)行了優(yōu)化的低真空系
樣品處理和導(dǎo)航非常簡(jiǎn)單，具有多用途樣品支架和 Nav-Cam+。