【產(chǎn)品簡介】
ContourGT-X 是實驗室研發(fā)和工業(yè)生產(chǎn)均可適用的高性能儀器。它積累了代產(chǎn)品在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新,實現(xiàn)了快速地三維表面測量,從納米級表面粗糙度測量到毫米級臺階的測量,垂直分辨率可達亞納米級??删幊痰?XYZ 控制和*的掃描頭自動控制,使得儀器測試空間極大的拓展,多種自動化功能,使操作使用簡便易行。配備的 Vision64 軟件,具有業(yè)界的數(shù)據(jù)分析功能,其優(yōu)化設(shè)計的用戶界面為使用者自行定義測量和數(shù)據(jù)分析提供了極大的便利。內(nèi)部激光自校準技術(shù)可以自動校準因環(huán)境或機械不穩(wěn)定產(chǎn)生的漂移,無需標準塊,減少使用成本保證測試的精準度。
【主要應(yīng)用】
1、 用于較大范圍的樣品表面形貌、粗糙度、三維輪廓等特性的快速測量;
2、 廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體材料表面粗糙度、陶瓷基板的翹曲度、激光刻蝕痕跡、BUMP 三維結(jié)構(gòu)、MEMS 器件關(guān)鍵尺寸、TSV 孔尺寸和精密機械加工部件等領(lǐng)域的測量。
【主要參數(shù)】
垂直量程 | 0.1nm 至 10mm(閉環(huán)無拼接) |
垂直分辨率 | 0.01nm |
電動樣品臺移動范圍 | ±200mm (XY 軸 )/100mm(Z 軸 ),XYZ 三軸自動 |
橫向取樣間隔 | 0.1µm 至 13.2µm ( 由配備的 FOV 目鏡和干涉物鏡倍數(shù)決定 ) |
光學橫向分辨率 | 350nm |
臺階測試精度 | 0.75% |
臺階重復(fù)性 | <0.1% 1σ |
傾斜調(diào)整 | 自動鏡頭調(diào)節(jié) ± 6° |
垂直掃描速度 | 117um / 秒,用戶可自行設(shè)定 |
機器校準方式 | 激光自校準(可選) |
聚焦功能 | 鏡頭自動聚焦,自動調(diào)節(jié)干涉條紋光強 |