? 分辨率成像-無論何時，不論哪次

? 最完整的納米尺度定量信息

? 潛力無限-靈活，開放

? 超乎想象的簡單，使每一個用戶成為AFM專家

AFM性能的詮釋

MultiMode®的掃描探針顯微鏡，得到客戶的高度認可，迄今為止數(shù)以萬計的MultiMode®掃描探針顯微鏡已經在成功安裝使用。的超高分辨率，完備的儀器性能，以及得到充分驗證的數(shù)據(jù)可靠性，奠定了其在AFM領域的。

簡便易行，輕松獲得專業(yè)結果

? 使用的自動掃描成像模式ScanAsyst™，研究人員不必再去繁瑣地調整Setpoint、反饋增益和掃描速度等參數(shù)，不論是在大氣下還是在溶液中，都可以輕松獲得高質量圖像。

? 在溶液環(huán)境下掃描更簡便易行，它無需進行尋找探針的共振頻率，ScanAsyst始終直接控制針尖樣品間的作用力，這樣可以消除Setpoint。

功能強大的定量成像模式

?  Bruker的新型成像模式PeakForce™ QNM™，可以對材料納米尺度的力學性質進行定量檢測，在正常的掃描速率下獲得高分辨率的材料粘附力和彈性模量圖像。與傳統(tǒng)的相位成像和某些廠家的多頻技術不同的是，使用Peakforce™ QNM™模式可獲得精確、定量的實驗數(shù)據(jù)。

? PeakForce TUNA™模塊，能夠定量測量樣品的導電特性，這是傳統(tǒng)的導電模式所不能實現(xiàn)的。

? 全新推出ScanAsyst-HR,可以在MultiMode8上實現(xiàn)快速掃描模式。與傳統(tǒng)的AFM相比，在其速度提高6倍時仍不損失圖像分辨率，獲得超高分辨的AFM圖像。掃描速度，可比傳統(tǒng)的AFM提高20倍。

具有的分辨率和測試性能

? 迄今為止，利用MultiMode系列原子力顯微鏡，已發(fā)表大量高水平論文，幫助科學家們解決了

? 諸多重大前沿科研問題。MultiMode8采用結構緊湊的剛性設計，即使樣品的測試難度大，測試條件極為苛刻，也能實現(xiàn)低系統(tǒng)噪音，獲得超高分辨率的圖像。

? NanoScope®V控制器提供業(yè)界的系統(tǒng)噪音和的超高帶寬，大大提高了數(shù)據(jù)分析能力，適用于更多的研究領域。

? Bruker的Peak Force Tapping®技術，精確控制針尖與樣品的作用力，可遠低于TappingMode™所需要的力。

功能完備，適用于各研究領域

? 大氣或者溶液環(huán)境中，MultiMode8都能夠完成樣品檢測，以其超高分辨率和完備的功能，被廣泛應用于物理、化學、材料、電子以及生命科學等各個領域。

? 在MultiMode8上可選配溫度調節(jié)和環(huán)境控制附件。加熱到250°C，冷卻至-35°C，或在水蒸氣和氧氣含量小于1ppm的手套箱中，都可以實現(xiàn)敏感樣品的檢測和成像。

? MultiMode8基本操作模式的基礎上選配不同功能的附件，可在高分辨成像的同時，獲得樣品的力學、電學、磁學、熱力學等各項性能指標

MultiMode 8-HR with glovebox for research requiring demanding environmental control.