島津EDX-720型X射線熒光光譜儀

EDX-720 NEW ! EDX-800HS/900HS迅速測定ppm級的有害金屬！

應(yīng)對WEEE & RoHS、ELV等有害物質(zhì)相關(guān)法規(guī)。

應(yīng)對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規(guī)和指令，保證產(chǎn)品和用料的綠色環(huán)津EDX-720Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產(chǎn)生的熒光Ｘ射線的能量進(jìn)行檢測，測定構(gòu)成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進(jìn)行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應(yīng)用于各個領(lǐng)域。特別是最近，以歐盟的報廢電子電氣設(shè)備指令（WEEE）、電子電氣設(shè)備所含特定有害物質(zhì)限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規(guī)為代表的綠色采購及環(huán)境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。

為滿足這種需求，的EDX-720系列達(dá)到了更高的靈敏度與精度。

1.分析元素：11Na-92U(EDX-720),可以準(zhǔn)確檢測ROHS指令以外其它元素.

2.樣品型狀： 300mmФ×150mmH ,可以滿足樣品的不規(guī)則性.

3. X射線濾鏡：5種自動交換,可以消除背景元素干擾,使儀器分析精度高于其它儀器.

4.能量分辨率:Si/Li檢測器,145eV.5.檢測下限:Cd:1.7ppm;Pb:2ppm;Cr:2ppm;Br:2ppm;Hg:2ppm.滿足ROHS 指令和索尼STM-0083標(biāo)準(zhǔn).6.軟件： 定性分析-測定/解析軟件。 定量分析-工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法

 固體?粉末?液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價RoHS、 ELV法規(guī)限制的有害元素的新裝置!靈敏度比以往機(jī)型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率! EDX-720

主要特點：

 1。配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。

 2。配置高計數(shù)率電路，增加檢測器的計數(shù)量。 

3。增加時間縮短功能，由熒光X射線強(qiáng)度算出測定精度，自動判斷所需最少測定時間。 

4。增加自動工作曲線選擇功能，依據(jù)識別樣品種類的不同而選擇宜的工作曲線。