GSL-1000激光顆粒分布測量儀 | (測量范圍:0.1~600微米) |
序號 | 項目 | 性能指標(biāo) | 序號 | 項目 | 性能指標(biāo) |
1 | 測量范圍 | 0.1~600 微米 | 7 | 激光器 | 半導(dǎo)體激光器,功率5mW |
2 | 重復(fù)性 | <±0.5%(標(biāo)樣,Dv50值) | 8 | 通訊端口 | USB 接口 |
3 | 復(fù)現(xiàn)性 | <±0.75%(標(biāo)樣,Dv50值) | 9 | 進樣方式 | 微量進樣裝置 |
4 | 系統(tǒng)誤差 | <±1%(標(biāo)樣,Dv50值) | 10 | 樣品池容積 | 40 ml |
5 | 測量原理 | 全程Mie散射理論 | 11 | 攪拌速度 | 100~800轉(zhuǎn)/分鐘,連續(xù)可調(diào) |
6 | 采樣通道 | 前向70通道,雙側(cè)向8通道 | 12 | 外形尺寸 | 575x295x251(mm) |
測量結(jié)果準(zhǔn)確性好 | |||
測量原理為全程Mie Scattering理論,結(jié)合本公司*的反演算法,加之精密的機械、光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計、*的電子元器件,在理論和性能上保證了測量結(jié)果的準(zhǔn)確性。 | |||
測量范圍寬 | |||
前向散射光接收采用本公司技術(shù)交叉扇形大尺寸主光電探測陣列(70個通道)、高靈敏度雙側(cè)向光電探測陣列(每側(cè)4個通道),使單透鏡測量范圍達0.1~600μm,可測量D50從300~400nm直至400~500μm的眾多樣品,以滿足大多數(shù)用戶對粒度測量范圍的需要。 | |||
測量重復(fù)性好 | |||
儀器設(shè)計采用高靈敏度光電探測陣列,低噪聲信號放大器,高位模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器,保證電路部分噪聲使用進口半導(dǎo)體激光器(壽命長達25000小時)及本公司自行研制的激光準(zhǔn)直系統(tǒng),激光光斑能量分布均勻,形狀規(guī)則。進樣系統(tǒng)具有轉(zhuǎn)速調(diào)節(jié)裝置,保證樣品在測量窗口中分布均勻。以上種種措施確保儀器測量結(jié)果具有良好的重復(fù)性。 | |||
測試速度快 | |||
高速采樣系統(tǒng),采樣速度達到4500次/秒;全隔離USB2.0通訊接口,提高了通訊速度;采用微量進樣系統(tǒng),樣品制備過程簡單,清洗速度快。一般在20秒之內(nèi),就可以完成一次測試過程。 | |||
測量軟件功能完備 | |||
儀器采用電腦進行實時控制,自動完成數(shù)據(jù)采集、分析處理、結(jié)果保存和打印等功能,操作簡單,自動化程度高。測量軟件具有SOP功能,數(shù)據(jù)庫功能以及多種數(shù)學(xué)模型,功能完備,操作簡單,易學(xué)易用。 |
- 1.基本功能:樣品測試、保存/打印、分析報告等。
- 2.高級功能:
- 1)sop功能:對常用的樣品制備方式、樣品參數(shù)、分散劑參數(shù)、測試參數(shù)等數(shù)據(jù)進行歸納,保存成SOP文件,如需要對此樣品進行測試,可以直接調(diào)用此SOP文件并啟動SOP測量方式,方便用戶測量,無需另行輸入相關(guān)測試參數(shù)。
- 2)自動標(biāo)定系統(tǒng):激光顆粒分布測量儀具有國內(nèi)的數(shù)據(jù)自動標(biāo)定系統(tǒng),本系統(tǒng)可根據(jù)已知的標(biāo)準(zhǔn)樣品的數(shù)據(jù),對儀器進行自動標(biāo)定。
- 3)數(shù)據(jù)庫功能:可將常用的樣品及分散劑折名稱、折射率、吸收率、樣品的制備信息等保存到數(shù)據(jù)庫中,以方便下次直接調(diào)用,無需另行輸入。
- 4)截圖功能:若儀器出現(xiàn)故障導(dǎo)致采樣圖形雜亂,可截取當(dāng)前狀態(tài)屏幕圖像傳給調(diào)試工程師,方便指導(dǎo)故障排除及維修。
- 3.報告存儲模式:專用的GSL格式(測試軟件打開)、PDF格式、BMP格式。
- 4.語言:中、英文切換。
- 1.電源設(shè)計:具有EMI防電磁干擾、防雷擊 、防浪涌等設(shè)計功能,提高了對供電電源的適應(yīng)性,同時也可以有效地避免由于雷擊、過壓等情況可能造成的儀器意外損壞。
- 2.高速采樣,高精度AD變換系統(tǒng),保證了對微量樣品的精確分析。
- 3.全隔離高速USB2.0通訊接口,與電腦通訊速度可以達到468000kB,通訊速度快,采用隔離供電,抗干擾性強,同時避免了劣質(zhì)電腦對儀器的傷害。
- 4.全半導(dǎo)體器件硬件設(shè)計,儀器開機后,無需預(yù)熱時間,即可達到穩(wěn)定的測試效果。
- 5. 儀器內(nèi)置溫、濕度檢測裝置,實時檢測儀器內(nèi)部的溫度,濕度變化,避免由于溫、濕度造成的測量結(jié)果偏差。