特點(diǎn)
- 根據(jù)DIN EN ISO 14577-1 Annex A和ASTM E 2546確定材料參數(shù)
- 確定粘彈性材料特性的動(dòng)態(tài)模式(動(dòng)態(tài)力學(xué)分析)
- 快速測量:30秒內(nèi)確定零點(diǎn)
- 即使對于暗表面，也僅需少許的樣品預(yù)處理準(zhǔn)備
- 適用于測量塊體材料和厚度大于1μm的涂層, 測量載荷范圍0.1 – 2000 mN
- 熱穩(wěn)定性和抗振動(dòng):可以穩(wěn)定測量數(shù)小時(shí)而不受無外界因素影響
- 可編程的全自動(dòng)化樣品臺(tái)，自動(dòng)測量多個(gè)測量點(diǎn)
- 配有4倍至40倍物鏡的顯微鏡，以精確定位測量點(diǎn)
- 模塊化的設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)用戶特定配置或設(shè)備的未來升級
- 壓頭: 維氏壓頭、柏氏壓頭、硬質(zhì)金屬球型壓頭、努氏壓頭或其它定制壓頭
- 強(qiáng)大的WIN-HCU軟件，便于直觀地操作和測量評估
應(yīng)用
- 測量漆層的硬度和彈性，例如汽車漆面
- 陽極氧化層的性能測試
- 硬質(zhì)涂層(如工具)的儀器化壓痕試驗(yàn)
- 研究和開發(fā)材料表面特性，例如科研植入物上的硬鉻或陶瓷涂層
- 電鍍行業(yè)中的一系列測量
- 電路板的質(zhì)量控制，如檢測薄金鍍層或絕緣層性能測試
- 外殼等復(fù)雜形狀零件的硬度測試
- 復(fù)合材料的性能表征
專業(yè)級納米壓痕測量系統(tǒng)
在材料測試中，動(dòng)態(tài)方法已日漸成為經(jīng)典納米壓痕測試的補(bǔ)充。如動(dòng)態(tài)力學(xué)分析(DMA)，它允許測試物質(zhì)的粘彈性特性。FISCHERSCOPE®HM2000能夠在納米尺度范圍測定材料特性，如壓痕硬度和依賴壓痕深度的彈性模量。
如果您想測量一個(gè)樣品的多個(gè)位置或進(jìn)行全自動(dòng)化的測試，F(xiàn)ISCHERSCOPE HM2000是您的選擇。只需點(diǎn)擊幾下，您就可以為測量點(diǎn)進(jìn)行編程，儀器便會(huì)處理其余的事情。
除了在電鍍行業(yè)中進(jìn)行質(zhì)量測試外，F(xiàn)ISCHERSCOPE HM2000的一個(gè)常見應(yīng)用領(lǐng)域是不同溫度下聚合物的性能表征。為此，該自動(dòng)化測量系統(tǒng)還可配備加熱臺(tái)。
用于測量條件的可選附件
- 封閉的測量艙，以保護(hù)設(shè)備并防止空氣擾動(dòng)，如來自空調(diào)的氣流
- 主動(dòng)減震臺(tái)或集成減振系統(tǒng)的隔音艙，進(jìn)一步降低振動(dòng)的影響
- 用于與溫度相關(guān)測試的加熱平臺(tái)
- 更高精度的樣品移動(dòng)平臺(tái)，定位精度≤500 nm
- 用于各類特殊樣品的夾具，如截面切片試樣或箔片樣品
- 原子力顯微鏡 (AFM)
