三高低溫箱,冷熱沖擊試驗箱技術指標:
機型 | JS-GDCJ-100/150/200/500B |
測試環(huán)境條件 | 環(huán)境溫度為+25℃、試驗箱內無試樣條件下 |
測試方法 | GB/T 5170.2-1996 溫度試驗設備 |
高溫室 | |
預溫度范圍 | RT~+200℃ |
升溫時間 | RT+10℃→+200℃ ≤40min 注:升溫時間為高溫室單獨運轉時的性能 |
低溫室 | |
預冷溫度范圍 | RT~-70℃ |
降溫時間 | RT → -70℃≤60min 注:降溫時間為低溫室單獨運轉時的性能 |
試驗室(試樣區(qū)) | |
試驗方式 | 氣動風門切換 3 溫區(qū)沖擊試驗條件(高溫-常溫-低溫) 2 溫區(qū)沖擊試驗條件(高溫-低溫) |
溫度沖擊范圍 | -55℃~ +80℃ |
溫度波動度 | ±0.5℃ |
溫度偏差 | ±2.0℃ |
溫度恢復時間 | ≤5min |
恢復條件 | 試樣:塑料封裝集成電路(均布)傳感器位置:試樣的上風側 高溫曝露: RT~+150℃:≥30分鐘 環(huán)境溫度曝露:常溫 低溫曝露: RT~-55℃:≥30分鐘 試樣重量:4.5kg(如需要放置重的試樣,請?zhí)崆案嬷?/span> |
制冷方式 | 水冷 |
1.GJB 150.5A-2009溫度沖擊試驗
2.GJB 360B-2009溫度沖擊試驗
3.GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則
4.GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗
5.GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫
6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫
7.GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件
三箱高低溫沖擊箱,冷熱沖擊試驗箱用途:
三箱高低溫沖擊試驗箱試驗箱適用于考核產品(整機)、元器件、零部件等經受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗能夠了解試驗樣品一次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來的影響。影響溫度變化試驗的主要參數為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時間、以及試驗的循環(huán)次數等因素。