電鏡耗材，進口樣品臺及存儲盒
型號 ：AGG301 直徑12.5mm釘形樣品臺
SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑為12.5mm，腿長8mm。材質(zhì)為鋁，包裝為100個/包。此外還有直徑為25mm和32mm的樣品臺。
型號：AGG399 銅制直徑12.5mm釘形樣品臺
SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑為25mm，腿長8mm，單個裝。材質(zhì)有鋁材質(zhì)和銅材質(zhì)。此外還有直徑為12.5mm和32mm的樣品臺。
型號：AGG3385 JEOL圓柱形樣品臺直徑12.5mm，高度5mm，50個/包
SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL日本電子掃描電鏡，此樣品臺直徑為12.5mm，高度為5mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，50個/包。
型號：AGG3376 JEOL日本電子圓柱形樣品臺直徑32mm，高5mm
SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL 日本電子掃描電鏡，樣品臺直徑為32mm，高度5mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個裝。
型號：AGG3165 雙90°截面，φ25mm釘形樣品臺
此為雙90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，樣品臺直徑為25mm，腿長9.5mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，同時也適用于飛納Phenom臺式電鏡，材質(zhì)為鋁。
截面樣品臺比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導(dǎo)體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺上觀察，可免于頻繁傾轉(zhuǎn)樣品臺，防止樣品在傾轉(zhuǎn)過程中掉落。
型號：OINACM50 JEOL直徑50mm樣品臺,可放8個12.5mm釘臺
適用于日本電子電鏡，樣品臺直徑50mm，可放置8個標(biāo)準(zhǔn)釘形樣品臺，一次性可多放8個樣品到樣品倉進行觀察，提高工作效率
型號：AGG3387 JEOL日本電子圓柱形樣品臺直徑50mm，高度10mm
SEM掃描電鏡圓柱形樣品臺適用于JEOL日本電子掃描電鏡，樣品臺直徑為50mm，高度10mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個裝。
型號：AGG3313 Hitachi M4樣品臺
直徑15mm，高度6mm、直徑25mm、直徑32mm
SEM掃描電鏡M4樣品臺適用于Hitachi 日立掃描電鏡，樣品臺直徑為15mm，高度為6mm，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。 此外還有直徑25mm和32mm樣品臺可選。
型號：AGG3423 Hitachi 高純碳M4樣品臺直徑15mm,高度6mm
型號：AGG3659 M4螺紋樣品臺轉(zhuǎn)釘型樣品臺轉(zhuǎn)換臺
此轉(zhuǎn)換臺適用于Hitachi日立掃描電鏡，底座為15mm直徑帶M4螺紋樣品臺，上面可固定釘形樣品臺，釘臺直徑可從12.5mm直徑到25mm直徑。材質(zhì)為鋁材質(zhì)，單個裝。
Hitachi樣品臺樣品臺管
SEM掃描電鏡樣品臺管可將釘形樣品臺固定于底部，更安全、方便地保存或轉(zhuǎn)移樣品。樣品臺管有可存儲Hitachi M4樣品臺，大直徑可到38mm，每包10個裝。
SEM-TEM載網(wǎng)樣品臺
SEM-TEM載網(wǎng)樣品臺為SEM掃描電鏡釘形樣品臺，可放置TEM銅網(wǎng)，對于特定的SEM/EDS應(yīng)用中，需要將粉末樣品分散于銅網(wǎng)上進行觀察。此釘形樣品臺上可安全地放置4個銅網(wǎng)。適用于Zeiss,FEI和TESCAN掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。
型號：AGG3392 可夾持觀察樣品截面樣品臺
此帶夾持樣品臺可用于夾持固定樣品側(cè)面，方便SEM中觀察樣品截面，也可用來夾持處于脫水處理中的生物組織樣品，進行SEM等觀察。適用于任何標(biāo)準(zhǔn)的樣品臺，材質(zhì)為鋁材質(zhì)
型號：AG15370-1 FESEM T-base樣品臺
日立S-4800、SU-70、SU6600和SU8000系列FESEM的新型模塊化T-Base適配器。由真空級鋁制成，與氣閘機械手和鎖桿對應(yīng)。如果SEM級行程允許，可與任何模塊化SEM試樣夾持器一起使用。包括M4螺釘。
型號：AGG3033-12 單夾片可觀察截面釘形樣品臺直徑12.5mm
此釘形樣品臺為90°截面，單面帶一個夾片，樣品臺直徑為12.5mm，單夾片便于固定樣品到樣品臺側(cè)面，來觀察樣品截面。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和Tescan等掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)
型號：AGG3035-25 雙夾片45°/90°截面可觀察截面釘形樣品臺
此釘形樣品臺為45°/90°截面，雙面各帶一個夾片，樣品臺直徑為25mm，45°及90°截面的夾片分別適用于固定不同樣品或樣品的不同截面，可同時放置兩個樣品，樣品臺直徑為25mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和Tescan等掃描電鏡，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。
型號：AGG3162 45/90°截面，φ12.5mm釘形樣品臺
此為45/90°截面SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，樣品臺直徑為12.5mm，腿長9.5mm。適用于Zeiss，F(xiàn)EI和TESCAN掃描電鏡，同時也適用于飛納Phenom臺式電鏡，材質(zhì)為鋁。截面樣品臺比較便于觀察樣品的截面，尤其是半導(dǎo)體芯片、薄膜樣品等，可直接將樣品粘貼于截面樣品臺上觀察，可免于頻繁傾轉(zhuǎn)樣品臺，防止樣品在傾轉(zhuǎn)過程中掉落。
帶夾片可固定釘形樣品臺帶一個夾子
此款SEM掃描電鏡釘形帶夾片樣品臺適用于ZEISS,FEI及TESCAN掃描電鏡，樣品臺直徑有25mm，可帶夾片1個，2個及3個，夾片可用于固定所需觀察的樣品，避免或減少測試中出現(xiàn)漂移，材質(zhì)為鋁材質(zhì)。
型號：AGG301F Zeiss短款直徑12.5mm釘形樣品臺
此為短款SEM掃描電鏡凹槽釘形樣品臺，適用于Zeiss掃描電鏡中7mm厚度的樣品座，樣品臺直徑為12.5mm，腿長6mm。材質(zhì)為鋁，包裝為100個/包。
型號：51-1120-408 TKD（t-EBSD）樣品臺EBSD樣品臺
透射菊池衍射（TKD），是一種基于SEM，應(yīng)用傳統(tǒng)EBSD硬件對電子透明樣品進行研究的新方法。已經(jīng)證明，該方法可使空間分辨率優(yōu)于10nm。TKD技術(shù)是納米結(jié)構(gòu)和大變形樣品EBSD表征的理想技術(shù)。此TKD樣品臺為t-EBSD樣品臺。
型號：51-1120-109 70度EBSD預(yù)傾樣品臺21mm長度
70度預(yù)傾EBSD樣品臺，規(guī)格：直徑12mm，高度（不含釘腿長度）21mm，頭部可固定一個的釘形樣品臺（51-1120-465）。
型號：51-H5-550 70度預(yù)傾可調(diào)高度EBSD樣品臺（1個裝）
70度預(yù)傾可調(diào)高度EBSD樣品臺，直徑13.8mm，高度從21mm到63.5mm可調(diào) ，頭部可固定一個釘形樣品臺。EBSD通用型樣品臺，高度可自由調(diào)節(jié)，以適用于多種掃描電鏡型號。
冷凍電鏡載網(wǎng)樣品盤 單個裝、7個裝
此冷凍電鏡樣品盤用于: 低溫下，安全保存或轉(zhuǎn)移已制備的冷凍電鏡樣品
每個圓盤內(nèi)有12個位置，可放置12個帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒，或24個不帶釘形腿的圓形冷凍TEM樣品盒；
每個圓盤上皆有數(shù)字標(biāo)識位置，易于檢索及定位樣品；
每個圓盤都設(shè)計有的雙耳空間，方便鑷子夾取樣品，避免劃傷樣品表面；
基礎(chǔ)工具包內(nèi)有整套圓盤及備用工具；
冷凍TEM電鏡載網(wǎng)樣品盒
此冷凍電鏡樣品盒用于儲存低溫玻璃化狀態(tài)的冷凍TEM電鏡樣品。適用于儲存和轉(zhuǎn)移通過冷凍裝置如FEI Vitrobot，Gatan 626, Gatan CT3500，以及其他低溫玻璃化系統(tǒng)制備的冷凍電鏡樣品。
樣品盒有兩個型號，每個都有4個存儲位，可存儲TEM載網(wǎng)。圓形冷凍樣品盒適合FEI Vitrobo 和Gatan 626，分為帶保護蓋及不帶保護蓋兩種，所帶的保護蓋為透明的可旋轉(zhuǎn)型保護蓋，或者為釘形保護蓋。方形冷凍樣品盒帶一個透明的可旋轉(zhuǎn)型保護蓋，適合Gatan CT3500冷凍轉(zhuǎn)移支架。樣品盒帶有的透明保護蓋可通過5/40型號不銹鋼螺絲固定在中心位置。
SEM掃描電鏡樣品臺管，釘形樣品臺盒
SEM掃描電鏡樣品臺管可將釘形樣品臺固定于底部，更安全、方便地保存或轉(zhuǎn)移樣品。樣品臺管有可存儲12.5mm直徑釘形樣品臺和存儲Hitachi M4樣品臺兩種規(guī)格
樣品臺存儲盒可裝14個釘形樣品臺
SEM掃描電鏡樣品臺存儲盒有3個規(guī)格可選，可存儲14枚直徑為12.5mm的釘形樣品臺（ZEISS/FEI/TESCAN），也可存儲12枚直徑為10mm和15mm的圓柱形樣品臺（JEOL），還可存儲14枚直徑為15mm的Hitachi日立M4樣品臺。樣品盒尺寸為121×77×34mm。
型號AGG3319：高彈膜盒樣品盒12個/包（35mm*35mm*18mm）
此高彈膜盒頂部和底部都附有一層Platilon薄膜，此薄膜是具有高彈性、有化學(xué)惰性的薄膜，可固定并保護樣品。適用于存放各種精密、易碎的樣品。存儲盒為透明盒子，可不用打開盒子對樣品進行檢查，避免了物體暴露在灰塵或其他環(huán)境中。
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