耐高低溫性能老化測試機常用于測試和試驗確定電工、電子、電器及其它工業(yè)產(chǎn)品、材料進行高低溫交變或恒定溫熱試驗各種樣品在人為的溫度環(huán)境下使用、擺設、貯存的參數(shù)及性能。適合LED、光電、電器、通訊、電子、儀表、化學、車輛、塑膠制品、金屬、建材、醫(yī)療、食品、航天等制品檢測質(zhì)量或研發(fā)之用。
耐高低溫性能老化測試機技術(shù)參數(shù):
1.內(nèi)箱尺寸:W40×H50×D40cm;W50×H60×D50cm;W50×H75×D60cm;W60×H85×D80cm;
2.外箱尺寸約:以實際尺寸為準,或咨詢業(yè)務員確認。
3.溫/濕度范圍:0℃~150℃;-20℃~150℃;-40℃~150℃;-70℃~150℃/20%~98%(溫度可選)
4.升溫速度:常溫?----->150℃約60分鐘(升溫約3℃每分鐘)
5.降溫速度:常溫?----->-70℃約100分鐘(升溫約1℃每分鐘)
6.控制儀器度:解析度: ±0.01℃;溫度波動度:±0.5℃;溫度均勻度:±2.0℃;濕度均勻度:±1%RH
7.執(zhí)行標準:
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)