·采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度，又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

·分體（傳感器與儀器之間通過(guò)引線連接）、兩用（F型N型合一）。

·*的溫度補(bǔ)償算法。

·具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）。

·具有統(tǒng)計(jì)功能：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。

·具有存儲(chǔ)功能：可存儲(chǔ)500 個(gè)測(cè)量值。

二、技術(shù)參數(shù)：

F型探頭：

·工作原理：磁感應(yīng)

·測(cè)量范圍：0μm～1250μm

·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）

·測(cè)量誤差：3%H+1μm

·示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)  ±(3%H+1)

            二點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) ±[(1～3)%H+1]

·測(cè)試條件：最小曲率半徑(mm)      凸1.5

            最小面積的直徑(mm)    Φ7

基體臨界厚度(mm)      0.5

N型探頭：

·工作原理：電渦流

·測(cè)量范圍：0μm～1250μm；其中銅上鍍鉻0μm～40μm

·分辨力：0.1μm（0~50μm ），1μm（>50μm ）

·測(cè)量誤差：3%H+1μm

·示值誤差：一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)  ±(3%H+1.5)

            二點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) ±[(1～3)%H+1.5]

·測(cè)試條件：最小曲率半徑(mm)      凸3

            最小面積的直徑(mm)    Φ5

基體臨界厚度(mm)      0.3