LDJD系列介電常數(shù)測試儀
LDJD系列介電常數(shù)測試儀是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。
- 設備配置
| 型號 | 高頻Q表 | 介質(zhì)損耗測試夾具 | 電桿組 | 液體杯 |
|---|---|---|---|---|
| LDJD-A | QBG-3E改進型 （10KHz-70MHz） | S916 | LKI-1 | 選配 |
| LDJD-B | QBG-3F改進型 （10KHz-110MHz） | S916 | LKI-1 | 選配 |
| LDJD-C | AS2853A改進型 （100KHz-160MHz） | S916 | LKI-1 | 選配 |
- 適用范圍
GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）
GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》
ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》
適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結果與某些物理條件有關，例如頻率、溫度、濕度，在特殊情況下也與電場強度有關。
- 什么是介電常數(shù)
介電常數(shù)εr
電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時，其電容Cx與同樣電極構形的真空電容C0之比:
…………（1）
式中:
εr——相對電容率；
Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容；
C0——真空中電容器的電極電容。
在標準大氣壓下，不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此，用這種電極構形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時，也有足夠的精確度。
在一個測量系統(tǒng)中，絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。
在SI制中，電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中，電氣常數(shù)ε0為:
…………（2）
用皮法和厘米來計算電容，真空電氣常數(shù)為:
…………（3）
- 什么是介質(zhì)損耗
介質(zhì)損耗角 δ
由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
介質(zhì)損耗因數(shù) tanδ：損耗角δ的正切。
