產(chǎn)品優(yōu)勢: ICAM式設(shè)計(jì)可使研究人員在測量時受到非常小或沒有受到粒子散射干擾,限度的提高測量精確性。表中顯示ICAM和一臺典型的分光光度計(jì)在440nm和510nm波長下測量AMCO清潔級濁度為100 NTU標(biāo)液時效果。在兩個波長下,典型分光儀測量時所受濁度的影響平均大概是ICAM的50倍。 表一 ICAM和典型分光測量100NUT樣品偏差
9波段光譜,從紫外到紅光
減少散射影響
檢測范圍0.001m-1到15m-1
固態(tài)光學(xué)和電子系統(tǒng)
產(chǎn)品技術(shù)特點(diǎn):
ICAM 產(chǎn)品信息
關(guān)鍵詞:分光光度計(jì)