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環(huán)保APP正式上線

測量工業(yè)顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地北京市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2022/9/4 13:03:02
  • 訪問次數(shù)172
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北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司(以下簡稱品智創(chuàng)思)是中國精密測量優(yōu)選品牌,始終專注于精密影像測量領(lǐng)域的影像分析及測量軟件的設(shè)計與研發(fā)。品智創(chuàng)思公司從事表面科學(xué)、分析儀器、計量檢測設(shè)備及實驗室儀器的設(shè)計、開發(fā)和制造及銷售于一體的系統(tǒng)集成商;致力于為工業(yè)制造和科研領(lǐng)域用戶提供顯微分析,圖像分析,缺陷識別和檢驗, 無損探查, 品質(zhì)管理, 計量,過程控制等專業(yè)檢測設(shè)備,依托強有力的技術(shù)資源及完善專業(yè)的售后服務(wù)與維修體系,向用戶提供專業(yè)成熟細(xì)致的服務(wù)及全面地解決方案。

公司致力于提高工業(yè)產(chǎn)品的質(zhì)量品質(zhì)! 迄今為止,品智創(chuàng)思已為3000余家用戶提供過優(yōu)秀的產(chǎn)品檢測設(shè)備,用戶遍布機械、電子、醫(yī)療、軌道交通、汽車、航空、航天、兵工、研究所、計量站、國家等行業(yè),為用戶提供*的儀器和完善的解決方案,為用戶工作提供強有力的技術(shù)支持。

品智創(chuàng)思秉承“專注質(zhì)量、誠信服務(wù)、立足創(chuàng)新、真誠合作”的理念,為您提供*、多角度、個性化的星級服務(wù)。

北京品智創(chuàng)思精密儀器有限公司愿與您精誠合作,共拓美好未來。

 

測量工業(yè)顯微鏡LEXT OLS 4500是一種納米搜索顯微鏡,它將激光顯微鏡和掃描探針顯微鏡(SPM)結(jié)合在同一個儀器中,可以在廣泛的放大范圍內(nèi)進行觀察和測量(從大約50倍到1 000 000倍)。
測量工業(yè)顯微鏡 產(chǎn)品信息

OLS 4500使無縫觀測和測量成為可能立即找到感興趣的區(qū)域
測量工業(yè)顯微鏡OLS 4500可以快速定位感興趣的區(qū)域,使用各種類型的無縫放大觀測,將物體保持在視場內(nèi)。

采用白色LED作為光源,保證彩色圖像清晰,具有良好的色彩再現(xiàn)性。這四個目標(biāo)使人們能夠在從低到高的各種放大范圍內(nèi)進行觀察。OLS 4500充分利用光學(xué)顯微鏡的特點,能夠進行BF(Brightfield)觀察-zui常用的差分干涉對比度(DIC)觀測,通過增強對比度,實現(xiàn)精細(xì)表面紋理的立體可視化,并簡化了偏振光觀測,反映了不同顏色樣品的偏振特性。其他功能包括高動態(tài)范圍(HDR),它通過改變曝光時間來合成幾幅圖像,以獲得亮度平衡和紋理增強的圖像。OLS 4500可以使用各種觀測方法快速找到感興趣的區(qū)域。

BF Brightfield
 BF亮場
zui廣泛使用的觀測方法。
色彩逼真的自然形象
復(fù)制。適用于高對比度樣品的觀察。

DIC
  迪奇

差分干擾對比度
增強對比度,使立體
無法用BF觀察到的樣品的可視化。適用于金屬結(jié)構(gòu)、硬盤和拋光晶圓表面等鏡面樣品的缺陷和雜質(zhì)的檢測。

Simplified Polarized Light
 簡化偏振光
用反射偏振光(具有特定振動方向的光)顯示樣品的偏振特性(例如折射率)。適用于觀察金屬表面、礦物和半導(dǎo)體材料。

HDR

高動態(tài)范圍
通過合成幾幅圖像來平衡觀察明亮和黑暗區(qū)域
不同的曝光時間。精細(xì)的觀察也是
可能通過增強紋理(表面條件)。

LSM可以用光學(xué)顯微鏡可視化無法觀察到的東西。

由于波長較短的405 nm激光,高孔徑(高口徑)物鏡和共焦光學(xué),具有很高的X-Y分辨率,使光學(xué)顯微鏡下不可見的物體在清晰的圖像中被觀察到。激光DIC觀測使對納米微表面的實時觀察成為可能。

測量工業(yè)顯微鏡[方法]用SPM快速、準(zhǔn)確地處理感興趣的區(qū)域。

無縫放大觀測將物體保持在視場內(nèi)

四個目標(biāo),從低到高的放大安裝在機動旋轉(zhuǎn)噴嘴與SPM單元。50倍和100倍的現(xiàn)場觀察模式使用光學(xué)顯微鏡或LSM將SPM掃描區(qū)域放置在場的中心。通過在區(qū)域上設(shè)置目標(biāo)標(biāo)記并切換到探針掃描模式,可以精確地接近感興趣區(qū)域。這意味著一次SPM掃描就可以得到目標(biāo)圖像,提高了工作效率,減少了懸臂梁的磨損。

Seamless-Magnification Observation Keeping the Object within a Field of View

 

方便切換到SPM觀測的指南

workflow of SPM 

SPM觀測的準(zhǔn)備工作,如懸臂安裝和掃描面積設(shè)置,可以通過引導(dǎo)顯示進行,這意味著即使是經(jīng)驗較少的操作人員也可以安全地進行初步工作。

[納米法測量】簡單操作的快速測量

 新研制的降噪SPM磁頭

Newly Developed SPM Head with Reduced Noise
 

新研制的緊湊型SPM掃描儀頭

OLS 4500采用鼻片式SPM掃描儀頭。由于目標(biāo)和懸臂端在同軸、旁焦定位中,即使切換到SPM模式,觀察點也不會從視野中消失。新研制的緊湊型SPM頭提高了剛度,降低了圖像噪聲,提高了響應(yīng)能力。

按要求放大區(qū)域的導(dǎo)航器

導(dǎo)航器功能允許通過進一步提高放大率來更近地查看用探針掃描模式獲取的圖像中所需的區(qū)域。通過簡單設(shè)置光標(biāo)放大區(qū)域和啟動探針掃描即可獲得目標(biāo)圖像。掃描區(qū)域可以自由設(shè)置,使觀察和測量能夠更快、更有效地進行。

Navigator to Magnify the Region as Requested
導(dǎo)航儀放大10μm x 10μm圖像上的3.5μm x 3.5μm區(qū)域

滿足不同要求的分析

Analyses to Meet Different Requirements
曲率測量(硬盤凹坑)

在SPM測量模式下采集的圖像可以進行分析,以適應(yīng)不同應(yīng)用的需要,結(jié)果可以作為CSV格式輸出。OLS 4500提供以下分析功能。

  • 輪廓(曲率因子測量,包含角度測量)
  • 粗糙度
  • 地形(面積、表面、體積、高度、直方圖、方位比)
  • 臺階(線、面積)
  • 粒子分析(可選)
  • 六種SPM測量模式,易于跟蹤制導(dǎo)顯示。

接觸方式

該模式通過懸臂梁靜態(tài)掃描設(shè)定區(qū)域,同時保持懸臂和試樣之間的排斥力,以直觀地顯示樣品的高度信息。它也可用于力曲線的測量。

Contact mode 1

Contact mode 2
金屬薄膜

動態(tài)模式

該振型使懸臂梁在諧振頻率附近振動,并控制Z方向距離使振動振幅常數(shù),從而直觀地顯示樣品的高度信息。適用于具有柔軟表面的樣品,如聚合物或粘性材料。

Dynamic mode 1

Dynamic mode 2
鋁表面

相位模式

該模式在動態(tài)模式掃描過程中檢測懸臂梁振動的相位延遲。它可以直觀地顯示樣品表面物理性質(zhì)的差異。

Phase mode 1

Polymer Film
聚合物膜

電流模式

該模式對樣品施加偏置電壓,以檢測和可視化懸臂梁和樣品之間的電流流動。它也可用于I/V測量。

Current mode 1

Current mode 2
硅襯底上SiO 2圖案的樣品。高度圖像(左)中的黃色區(qū)域是SiO 2,在當(dāng)前圖像(右)中顯示藍(lán)色(沒有電流的區(qū)域)。這些圖像表明,基板具有無電流的區(qū)域。

表面勢模(KFM)

該模式通過導(dǎo)電懸臂梁施加交流電壓,檢測懸臂梁與樣品之間的靜電作用力,并將樣品表面的電勢可視化。它也被稱為開爾文力顯微鏡(KFM)模式。

Surface Potential mode1

Surface Potential mode2
磁帶樣本。表面電位圖像表明,幾百mV的電位差分布在樣品表面。這種分布被認(rèn)為是在磁帶表面的潤滑層中存在不規(guī)則現(xiàn)象。

磁力模式(MFM)

該模式以相位模式掃描磁化懸臂梁的設(shè)定區(qū)域,檢測懸臂梁振動中的相位延遲,然后將樣品表面的磁信息可視化。它也被稱為磁力顯微鏡(MFM)模式。

Magnetic Force mode1

Magnetic Force mode2
硬盤樣本。圖像顯示了磁性能的分布。

LSM允許靈活地處理各種樣本。

成像斜率達(dá)85°

由于具有高數(shù)值孔徑的專用物鏡和通過405 nm激光獲得優(yōu)異性能的專用光學(xué)系統(tǒng),OLS 4500能夠可靠地測量以前無法測量的銳角樣品。

LEXT-Dedicated Objective Lenses
LEXT專用物鏡

Razor with an Acute Angle
銳角剃刀

高分辨率微輪廓測量

利用波長為405 nm的短波激光和高孔徑物鏡,可獲得0.12μ的X-Y分辨率。因此,OLS 4500可以對樣品表面進行亞微米測量。結(jié)合高精度線性比例尺和奧林巴斯原始強度檢測技術(shù),這允許高清晰度成像,能夠精確測量從亞微米到數(shù)百微米范圍的高度。此外,OLS 4500還能保證測量值的“精度”,即測量值與其真實值的距離有多近,以及指示重復(fù)測量值之間的變化程度的“重復(fù)性”,兩者都顯示了測量工具的性能。

0.12 μm Line and Space Pattern
0.12μm線與空間模式

MPLAPON50XLEXT
(MPLAPON50XLEXT)
臺階高度標(biāo)準(zhǔn)B型,PTB-5,Institut für Mikroelektronik,德國

廣域內(nèi)的任何圖像采集區(qū)域

雖然高倍圖像的視場一般較窄,但OLS 4500的拼接功能可以通過625幅圖像的拼接,提供高分辨率、寬視場的圖像數(shù)據(jù)。獲得的寬視場圖像可以進行三維顯示和三維測量.

high speed stiching

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