GCYG200新款壓汞儀的詳細(xì)資料：
一、測試原理：
壓汞法孔隙度測試分析技術(shù)是基于在精確控制的壓力下將汞壓入孔結(jié)構(gòu)中的方法實(shí)現(xiàn)的。除高速、精確及分析范圍廣等優(yōu)點(diǎn)外，壓汞儀還可得到樣品眾多特性，例如：孔徑分布、總孔體積、總孔比表面積、中值孔徑及樣品密度（堆積密度和骨架密度）。
孔隙度通常包括材料孔徑、孔體積、孔徑分布、密度和其他孔隙度相關(guān)特性的測量?？紫抖葘τ诹私馕镔|(zhì)組成、結(jié)構(gòu)和應(yīng)用是非常重要的。材料的孔隙度影響其物理屬性從而影響其在周圍環(huán)境下的行為，影響材料的吸附性和滲透性、強(qiáng)度、密度和其他性質(zhì)。
二、性能參數(shù)：
1. 孔直徑測試范圍：30nm至600μm ；
2. 孔隙體積測試范圍：0.3-3.5cc ；
3. 測量精度：≤ 0.5% ;
4. 分析站：1個獨(dú)立樣品分析站，樣品室*體積15cc ；
5. 工作壓力范圍：0.01-50Mpa，采用雙路壓力測量技術(shù) ；
6. 試驗(yàn)壓力：60Mpa ；
7. 靜壓力頭: ≤20mmHg ；
8. 空白值: 50Mpa時(shí)約0.25ml ；
9. 具有嚴(yán)格的汞安全防護(hù)措施，有效避免汞蒸氣對室內(nèi)環(huán)境的影響 ；
10. 真空泵：雙極機(jī)械真空泵，極限真空度0.05Pa ；
11. 分析模型：累計(jì)總孔體積、累計(jì)比表面積、平均孔徑、孔徑分布（孔隙度）曲線、孔喉比、注汞/退汞曲線等等；
12. 樣品類型：固體顆粒樣品或塊狀固體樣品；
三、產(chǎn)品特點(diǎn)：
GCGY200型壓汞儀主要由真空系統(tǒng)樣品室系統(tǒng)、加壓系統(tǒng)、測量控制系統(tǒng)四部分組成。
1. 真空系統(tǒng)：主要是由一臺雙級泵和真空傳感器組成，極限真空度為 0.05Pa；
2. 樣品室系統(tǒng)：耐高壓、耐真空，空白值小，測量精度高，穩(wěn)定性強(qiáng)。利用重力差原理，在正壓環(huán)境下進(jìn)行壓力測量技術(shù)，方便、適用，保證了整個試驗(yàn)的連續(xù)性、穩(wěn)定性、可靠性和完整性。
3. 加壓系統(tǒng)：可為測試過程提供0-50Mpa（7250psi）壓力，可無級調(diào)速控制泵速度的快慢及加退壓。
4. 測量控制系統(tǒng)：由壓力測量、電容測量、真空測量三部分組成。壓力測量由兩路壓力變送器和數(shù)字壓力表來完成壓力的計(jì)量。電容測量是由電容儀電容變送器和數(shù)字顯示器來完成。真空測量是由真空硅利用熱偶原理實(shí)現(xiàn)對樣品室內(nèi)真空度的測量。
5. 具有嚴(yán)格的汞安全防護(hù)措施，有效避免汞蒸氣對室內(nèi)環(huán)境的影響 。
調(diào)節(jié)張力至1.0MPa±0.2MPa（以薄膜的標(biāo)稱厚度和寬度計(jì)算）。在薄膜出現(xiàn)小凹陷且平行于薄膜邊緣的一條直線上用自粘性標(biāo)簽作兩個標(biāo)記（相距1000mm和1100mm之間），用鋼直尺測量兩標(biāo)記之間的距離，b）以鋼直尺為基準(zhǔn),薄膜每一邊都是直的（偏差在0.5mm以內(nèi)）；c）以鋼直尺為基準(zhǔn),任一點(diǎn)的凹陷不超過7.5mm。用鋼直尺測量在此張力下兩參考標(biāo)記之間的距離，以薄膜的伸長占兩標(biāo)記間起始距離的百分?jǐn)?shù)表示。凹陷和偏移/弧形的總值以三次測量值的中值表示，并報(bào)告另兩個值。薄膜經(jīng)粗化后，形成微小的凹凸不平的表面，利用儀器的觸針（或探頭）在薄膜表面上移動,從而測出薄膜的平面粗糙度Rz。能滿足薄膜試樣的平均粗糙度測試范圍及精度要求的表面粗楂度測試儀器的均可使用。
誤差不大于士10%。b）少許及端部包有脫脂棉花的棉簽。從樣品上縱、橫向各取三塊試樣，其尺寸以能覆蓋與儀器配套的測試小平面為準(zhǔn)。試樣表面必須潔凈，無損傷、折皺。用棉簽醪上丙爾清洗儀器的測試平面。將試樣放在儀器的測試平面上,試樣要貼緊平面，無氣泡存在。試樣的被測面朝向測試觸針，讀出三塊試樣縱、橫向六個Re的數(shù)值。薄膜的表面粗糙度以三個試樣的六個Ra的算術(shù)平均值表示，按GB/T10006—1988的規(guī)定。表面張力逐漸增加的一系列有機(jī)混合液滴，當(dāng)它們達(dá)到一定濃度時(shí)，具有對薄膜表面濕潤的能力。由于在空氣存在下,薄膜與相應(yīng)的混合液滴相接觸的濕潤張力是空氣-薄膜和薄膜-液體兩者界面的表面能的函數(shù)，從而在液體試劑或薄膜表面有任何的微量活性雜質(zhì)會影響測定結(jié)果。
新款壓汞儀
新款壓汞儀
