測(cè)試功能：

納米壓痕

納米沖擊和疲勞測(cè)試

納米劃痕與磨損

Nano-fretting納米微震磨損

成像和納米定位

測(cè)試環(huán)境：

高溫與低溫環(huán)境

液體和濕度環(huán)境

氣氛環(huán)境和真空環(huán)境

1. 高剛度測(cè)試平臺(tái)

   1.1. 環(huán)境與震動(dòng)隔離系統(tǒng):

   1.1.1. 多層聲衰減環(huán)境屏蔽柜隔離噪音與氣流干擾，主動(dòng)懸浮平臺(tái)隔離環(huán)境震動(dòng)干擾

   1.1.2. 隔離系統(tǒng)提供六自由度平臺(tái)

   1.2. 環(huán)境屏蔽柜內(nèi)提供主動(dòng)溫度控制系統(tǒng)，使屏蔽罩內(nèi)部溫度達(dá)到恒定狀態(tài)

   1.3. 系統(tǒng)配備不間斷電源（UPS)

   1.4. 高分辨率彩色四物鏡光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)自動(dòng)切換: (5x, 10x, 20x ,40x)

2. 測(cè)試平臺(tái)載荷范圍

   2.1. 載荷參數(shù):

   2.1.1. 納米載荷范圍: 10 μN(yùn) – 500 mN

   2.1.2. 微米載荷范圍: 300 mN– 30 N

   2.1.3. 熱漂移： 0 . 004 nm/s 或更好

3. 納米壓痕

4. 微米壓痕

5. 劃痕與磨損模塊：劃痕與磨損可實(shí)現(xiàn)單次與多次往復(fù)摩擦磨損試驗(yàn)

應(yīng)用范圍
NanoTest Vantage可以廣泛應(yīng)用于：航空航天、汽車(chē)工業(yè)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、

MEMS、高分子、薄膜和涂層，以及太陽(yáng)能/燃料電池等。