電子材料冷熱沖擊試驗(yàn)箱用于電子，電子材料，電子元器件，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽(yáng)能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，FPC，微電子，測(cè)試手機(jī)連接器，電腦連接器，電源連接器，信號(hào)連接器，PCB連接器，FPC連接器，電感器、濾波器、變壓器，電機(jī)，，航天，航空，汽車燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

可測(cè)試的溫度條件包括：

電子材料冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：

GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法； 

GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法； 

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)； 

GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)； 

GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)； 

GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。 

SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 

SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 

IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 

GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 

GB/T 2423.22-2002溫度變化 

QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估