LED高低溫沖擊試驗箱用于測試LED、LED光電、LED照明、LED背光源、LED顯示器、LED模組、LED燈條、LED照明、LED發(fā)光二極管、LED燈珠、LCD、LCD模組、LCD液晶屏、電子、電子元器件、電器、電機、電源、電池、電容器、電阻、IC、電感、半導(dǎo)體、電路板、線路板、PCB、PCB板、FPC、FPC印制電路板、電腦、手機、數(shù)碼產(chǎn)品、通訊設(shè)備、運動器材、鎖具、建材、陶瓷、印刷、膠粘、粘合劑、油漆、油墨、化工、涂料、塑膠、塑料、橡膠、五金、、航天、航空、汽車配件、船舶。用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
LED高低溫沖擊試驗箱工作示意圖：
LED高低溫沖擊試驗箱滿足的試驗方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估
