日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)人工測(cè)量誤差減小,對(duì)測(cè)量管狀物很有效。
日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)產(chǎn)品簡(jiǎn)介:
LW-990是通過(guò)將膜厚計(jì)探針或厚度計(jì)的升降部的整體式膜厚計(jì)安裝于LW-990中,由于膜厚度測(cè)量?jī)x的測(cè)里開(kāi)始與測(cè)童對(duì)象接觸--恒定的力和角度,人工測(cè)量誤差減小,并且可以以高的重復(fù)精度測(cè)量來(lái)執(zhí)行。如要測(cè)量的管狀物,這是特別有效的。探針的膜厚計(jì)型,和支持雙式膜厚計(jì)的LZ-990相對(duì)應(yīng)。
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日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)技術(shù)參數(shù):
尺寸重量:150 (W) X210 (D) X280 (H) mm、2. 5kg
對(duì)應(yīng)傳感器:
探頭類(lèi)型:LEP和LHP- 20/20C/30/30C/ J
機(jī)身整體式:LZ-990
日本KETT LW-990膜厚計(jì)測(cè)試臺(tái)附件:
螺絲,電纜夾,探頭支架(黑色和白色),探針,博爾特,軸支架,內(nèi)六角扳手,使用說(shuō)明書(shū)
LZ-990使用例子
探針型的使用例子
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