導波雷達物位計的發(fā)展基于一項歷經(jīng)檢驗的測距技術(shù),該測距技術(shù)所采用的測量原理被稱之為時域反射(TDR)原理。
低強度電磁脈沖以納秒級寬度被發(fā)射并沿著剛性或柔性的導體以光速行進,當脈沖接觸到介質(zhì)表面時被反射。被反射的脈沖強度取決于被測介質(zhì)的相對介電常數(shù) εr;εr 越大,則反射越強。
發(fā)射脈沖與反射脈沖的時間差的一半對應著從法蘭面到被測介質(zhì)表面的距離;并且,該時間差被轉(zhuǎn)換成 4…20 mA 電流和 / 或數(shù)字信號。
粉塵、泡沫、蒸汽、波動的表面、沸騰的表面;被測介質(zhì)的溫度、壓力或密度的變化都不會影響儀表的正常運行。
輸入 反射的脈沖信號沿纜繩傳遞至儀表電子線路部分,微處理器對此信號進行處理,識別出微波脈沖在物料表面所產(chǎn)生的回波。正確的回波信號由智能軟件完成識別,距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比:
D=C×T/2
其中C為光速
因空罐的距離E已知,則物位L為:L=E-D
輸出 通過輸入空罐高度E(=零點),滿罐高度F(=滿量程)及一些應用參數(shù)來設(shè)定,應用參數(shù)將自動使儀表適應測量環(huán)境。對應于4-20mA輸出。
• 盲區(qū)小
• 測量不受下列因素影響:
-液體密度,固體物料疏松程度
-溫度/壓力
-粉塵/蒸汽
• 接觸式測量,超高測量精度
• 同軸桿式探頭的測量不受罐體及安裝立管的內(nèi)部結(jié)構(gòu)影響
• 可以測量所有介電常數(shù)>1.8的介質(zhì)
• 測量范圍0…30m
• 采用兩線制、回路供電的技術(shù),供電電壓和輸出信號通過一根兩芯電纜傳輸,也可以選配四線制
• 4…20mA輸出/HART(兩線)
• 不受壓力、溫度變化、惰性氣體、真空、煙塵、噪音、蒸汽、揚塵等工況影響,測量結(jié)果穩(wěn)定可靠
儀表型號 | LWLD601 | LWLD602 | LWLD603 | LWLD604 |
應 用 | 無腐蝕性液體、粉末 | 無腐蝕性液體、粉末 | 無腐蝕性液體 | 強腐蝕性液體 |
量程范圍 | 0...30m | 0...6m | 0...4m | 0...6m |
過程連接 | G1 1/2螺紋、法蘭 | G1 1/2螺紋、法蘭 | G1 1/2螺紋、法蘭 | G1 1/2螺紋、法蘭 |
過程溫度 | -40...220℃ | -40...220℃ | -40...220℃ | -40...130℃ |
過程壓力 | -0.1~4.0MPa | -0.1~4.0MPa | -0.1~4.0MPa | 0~1.0MPa |
測量精度 | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% |
儀表盲區(qū) | 0.3m(傳感器末端) | 0.3m(傳感器末端) | 0-0.3m(傳感器末端) | 0.3m(傳感器末端) |
信號頻率 | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz |
信號輸出 | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART |
電 源 | 24VDC、兩線制 | 24VDC、兩線制 | 24VDC、兩線制 | 24VDC、兩線制 |
防護等級 | 壓鑄鋁殼、IP67 | 壓鑄鋁殼、IP67 | 壓鑄鋁殼、IP67 | 壓鑄鋁殼、IP67 |
防爆等級 | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb |
天線規(guī)格 | φ4mm/不銹鋼纜式 | φ10mm/不銹鋼桿式 | φ40mm/不銹鋼同軸管式 | φ6mm/不銹鋼襯F46纜式 |