法國LAMTECH用于精加工表面的目視檢查干涉儀 SPI 75

公司簡介：赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75，德國總部直接采購，近30年進口工業(yè)品經(jīng)驗,原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報價，優(yōu)，設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75

產(chǎn)品屬性：SPI 視覺檢測儀器允許對研磨、研磨或拋光表面進行平面度檢查。平面度測量儀一樣，SPI干涉儀也是基于光的掠入射原理法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。因此，對于無光澤的測試對象，SPI 干涉條紋是可見的。在使用 SPI 檢查之前，不必對零件進行拋光。SPI 可提供 75 和 130 毫米的測量范圍。此外，我們還提供具有增強靈敏度的 SPI-xs。靈敏度設(shè)置為 0.3 µm/條紋，這對應(yīng)于使用光學(xué)平面和氦燈或鈉燈進行測量的靈敏度法國LAMTECH干涉儀 SPI 75。

主要產(chǎn)品：激光平面度測量儀SP，I目視檢查干涉儀法國LAMTECH干涉儀 SPI 75

產(chǎn)品應(yīng)用： SPI干涉儀用于零件的視覺平面度檢查 Lamtech Lasermesstechnik 提供干涉儀，用于對精加工零件進行視覺平面度檢查。 為了評估測試對象，將零件放置在 SPI 的玻璃表面上。部分和邊緣比在放大呈現(xiàn)。平面度的評估是基于對顯示的干涉條紋的直線度、平行度和等距的解釋進行的。 干涉儀適合放置在靠近加工機器的生產(chǎn)區(qū)域。 法國LAMTECH干涉儀 SPI 75程序 INTDOK (更多) 或打印機可以記錄零件的平整度。 目視檢查干涉儀 SPI – 用于精加工表面的目視平面度檢查 配飾提供可選的靈敏度標準，用于常規(guī)控制 SPI 視覺檢查干涉儀的正確靈敏度設(shè)法國LAMTECH干涉儀 SPI 75