測(cè)量原理

測(cè)試時(shí)一束平面偏振光照在樣品表面上，由加強(qiáng)型且穩(wěn)定的發(fā)光二極管LED發(fā)出的光束經(jīng)過(guò)一個(gè)偏振片形成偏振光。由于磁光克爾效應(yīng)，反射光的偏振面會(huì)發(fā)生一定偏轉(zhuǎn)，偏轉(zhuǎn)大小取決于磁疇磁化方向，并且通過(guò)分析手段可以轉(zhuǎn)化為對(duì)比參數(shù)。低分辨率的顯微鏡的光束入射角固定為 30°。利用橫向和縱向的磁光克爾效應(yīng)可以分析成像，放大倍數(shù)可以通過(guò)調(diào)節(jié)設(shè)備上的變焦器件控制。高分辨率顯微鏡中，通過(guò)選擇不同的照明LED燈（顯微鏡采光平面中特定區(qū)域成像），可以調(diào)節(jié)磁光克爾效應(yīng)的敏感方向。

Evico磁光克爾顯微鏡和磁強(qiáng)計(jì)是一款的設(shè)備，可以用來(lái)觀測(cè)多種磁性材料的磁疇、磁化過(guò)程以及記錄磁化曲線，如塊體材料、帶狀材料、磁性薄膜、多層膜、圖樣薄膜、以及微米-納米線等。整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)是半自動(dòng)、零接觸、無(wú)損傷的。下圖為光路示意圖：

該系統(tǒng)提供兩套顯微鏡系統(tǒng)供選擇（Ⅰ）標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡 （Ⅱ）高分辨-概覽復(fù)合顯微鏡。

                         ?              

（Ⅰ）標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡                                                      （Ⅱ）復(fù)合顯微鏡

    標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡具配置有高質(zhì)量的光學(xué)鏡頭，且有很高的機(jī)械穩(wěn)定性，適用于100um-5mm范圍內(nèi)的磁疇成像，分辨率達(dá)到光學(xué)極限200nm。

    復(fù)合顯微鏡系統(tǒng)是更加靈敏的設(shè)備，組合了兩套顯微鏡：（Ⅰ）低分辨顯微鏡，適用于較大區(qū)域的磁疇總覽，30cmX30cm-8cmX8cm。（Ⅱ）高分辨率的顯微鏡的測(cè)試范圍和分辨率和標(biāo)準(zhǔn)型顯微鏡是一樣的，即直徑5mm的區(qū)域和200nm的分辨率。該系統(tǒng)同時(shí)配置了兩種顯微鏡，可以按照需要任意選擇。

?    任意一種顯微鏡系統(tǒng)都有圖像處理功能來(lái)使對(duì)比增強(qiáng)。配備的CMOS相機(jī)；成像時(shí)間分辨率可達(dá)5ns;可以施加任意方向的外加面內(nèi)磁場(chǎng)；面外磁場(chǎng)可根據(jù)需要選配；。

安裝實(shí)物圖

的圖像處理技術(shù)

的Kerr LED燈  矢量成像

磁鐵及其它選件

應(yīng)用示例

實(shí)時(shí)記錄磁化過(guò)程