超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡 - neaSNOM系統(tǒng)
neaSNOM是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學(xué)顯微鏡(簡稱s-SNOM),其采用了化的散射式核心設(shè)計技術(shù),極大的提高了光學(xué)分辨率,并且不依賴于入射激光的波長,能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi),提供優(yōu)于10nm空間分辨率的光譜和近場光學(xué)圖像。由于其高度的可靠性和可重復(fù)性。neaSNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點研究方向的科研設(shè)備,在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
技術(shù)特點和優(yōu)勢:
•neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產(chǎn)品
•保護(hù)的散射式近場光學(xué)測量技術(shù)
——的10 nm空間分辨率
•的高階解調(diào)背景壓縮技術(shù)
——在獲得10nm空間分辨率的同時保持的信噪比
•保護(hù)的干涉式近場信號探測單元
•的贗外差干涉式探測技術(shù)
——能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像
•保護(hù)的反射式光學(xué)系統(tǒng)
——用于寬波長范圍的光源:可見、紅外以至太赫茲
•高穩(wěn)定性的AFM系統(tǒng),
——同時優(yōu)化了納米尺度下光學(xué)測量
•雙光束設(shè)計
——的光學(xué)接入角:水平方向180°,垂直方向60°
•操作和樣品準(zhǔn)備簡單
——僅需要常規(guī)的AFM樣品準(zhǔn)備過程
超高分辨散射式近場光學(xué)顯微鏡原理介紹和功能介紹視頻:
重要應(yīng)用領(lǐng)域: