場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300
日立的冷場發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù),空間分辨電子能量損失譜以及高精度平行納米電子束衍射技術(shù)開辟了高效,高精度樣品分析的新途徑。
特點
分辨率
0.1 nm(晶體點陣)
0.19 nm(點對點)
0.13 nm(信息極限)
放大倍數(shù)
200倍 至 1,500,000倍
加速電壓
300 kV, 200 kV*, 100 kV*
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關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類
- 聚焦離子束
- TEM/SEM樣品的前處理裝置