LAP-W500操作過程全部由計算機自動完成控制完成，控制系統(tǒng)原理圖如下：
智能型激光粒度分析儀控制系統(tǒng)原理圖
一、LAP-W500激光粒度分析儀主要性能特點：
1、*的光路設計：LAP-W500采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；的高密度探測單元，讓LAP-W500擁有了的小顆粒測試能力，高密度探測單元使LAP-W500具有的全量程無縫測試能力。
2、全密封光纖半導體激光器：LAP-W500采用了高穩(wěn)定、長壽命的全密封光纖半導體激光器，優(yōu)良的穩(wěn)定性讓LAP-W500擁有了的測試重復性。
3、全自動測試：真正全自動測試，您所做的僅僅是放入樣品，無干擾數(shù)據(jù)不用人工挑選數(shù)據(jù)。
4、防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。的防震結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使測試結果更穩(wěn)定可靠。
5、免排氣泡設計：全新的設計使整個測試不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾。
6、樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優(yōu)化設計，儀器管道、循環(huán)泵內(nèi)無積液殘留，避免對下一次測試數(shù)據(jù)的影響。
7、樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷。
二、主要技術參數(shù)：
規(guī)格型號 ：LAP-W500
執(zhí)行標準： ISO 13320:2009；GBT 19077-2016
測試范圍： 0.1μm -500μm
探測器通道數(shù)：60
準確性誤差：<1%（標準樣品D50值）
重復性誤差：<0.5%（標準樣品D50值）
激光器參數(shù)：光纖輸出大功率半導體激光器 λ= 635nm, p>10mW
智能操作模式：一鍵式全自動軟件操作模式
測試速度： <1min/次（不含樣品分散時間）
內(nèi)置分散方法：超聲（頻率：f=40KHz,功率：p=80W,時間：隨意可調(diào)）、攪拌（循環(huán)攪拌一體化設計，轉速：100-30000rpm轉速可調(diào)）、循環(huán) （循環(huán)額定流量：0-10L/min可調(diào) 額定功率：25W）
遮光度探測：儀器具備的遮光度實時探測功能，保證樣品加入量更準確
樣品池：自行設計沸騰式樣品池，分散效果更好，容量：190-600mL均可正常測試
三、軟件功能
1、測試報告： 測試報告可導出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場合下查看測試報告以及科研文章中引用測試結果
2、自行DIY 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù)
3、統(tǒng)計方式 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對于粒度分布的不同統(tǒng)計方式
4、統(tǒng)計比較 可針對多條測試結果進行統(tǒng)計比較分析，可明顯對比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時間測試結果的差異，對工業(yè)原料質量控制具有很強的實際意義
5、分析模式 包括自由分布、R-R分布和對數(shù)正態(tài)分布、按目分級統(tǒng)計模式等，滿足不同行業(yè)對被測樣品粒度統(tǒng)計方式的不同要求
6、顯示模板 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對粒度測試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等
7、智能操作模式 真正全自動無人干預操作，無人為因素干擾，您只需按提示加入待測樣品即可，測試結果的重復性更好。
8、多語言支持 中英文語言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語言界面。
