OmniScan X3

相控陣探傷儀

信心滿滿，昭然可見

重新打造的OmniScan

如今相控陣檢測團隊中的主力成員更加出色！OmniScan 探傷儀曾經(jīng)憑借其結(jié)果可靠、圖像清晰、使用方便等特性脫穎而出，成為范圍內(nèi)便攜式相控陣領(lǐng)域中的性儀器，如今這款儀器又新添了諸如全聚焦方式（TFM）圖像等一些強大的功能，從而可使用戶更加信心十足地完成檢測工作。

如果您以前使用過OmniScan儀器，那么您會對 OmniScanX3探傷儀有一種非常熟悉的感覺：依然保留 了高度便攜的特性和適用于工業(yè)環(huán)境的堅固外殼，不過其 用戶界面更為簡潔明快、更具現(xiàn)代感。如果您從來沒有用過這種儀器，您會很快發(fā)現(xiàn)OmniScan為什么可以成為備受世界各地檢測人員歡迎和信賴的性儀器。

基本特性

• 機載TOFD（衍射時差）功能

• 2個UT通道

• 通過墜落測試，符合IP65評級標準

• 8組聲束設(shè)置

• 與現(xiàn)有的奧林巴斯掃查器和探頭相兼容

• 16:128PR配置或32:128PR配置

• 符合ISO 18563?1:2015和EN12668?1:2010

可提升效率的創(chuàng)新特性

• 通過全矩陣捕獲（FMC）功能可以采集到全聚焦方法（TFM）圖像（可支持64個晶片的孔徑）

• 4 GB的大文件容量，64 GB的內(nèi)存

• 精心設(shè)計的軟件，大大減少了按鍵的次數(shù)

• 在單一工作流程中創(chuàng)建整個掃查計劃

• 通過“單掃”方式，快速采集校準的包絡(luò)線

• 1024個聚焦法則

自始至終，可以完成更有效的檢測

立即投入工作

綜合性機載掃查計劃工具功能，一經(jīng)啟用，就可以幫助用戶在檢測開始之前觀察到檢測的圖像。如果用戶在掃查計劃 中遺漏了某些信息，這些可視化工具便會提前發(fā)現(xiàn)這種失誤，從而可以降低出錯的風(fēng)險。用戶可以在一個簡單的工作流程中，創(chuàng)建包含全聚焦方式（TFM）區(qū)域在內(nèi)的整個掃查計劃。得到了改進的校準和設(shè)置驗證工具可以使用戶快速完成檢測設(shè)置的創(chuàng)建工作，并盡快投入到檢測工作中。

更快完成設(shè)置工作

• 可以一次性配置多個探頭/組

• 在儀器上創(chuàng)建雙晶線性、矩陣和雙矩陣列的設(shè)置

• 自動楔塊驗證
  

• 單掃校準
  

• 使用同時多點時間校正增益（TCG）進行數(shù)據(jù)采集

• 對保存的設(shè)置進行簡化的校準驗證 過程

質(zhì)量更好的圖像可以使用戶更有信心地判讀缺陷指示信號

更清晰的相控陣圖像有助于用戶更自信地對信號指示進行 判讀。通過使用全聚焦方式（TFM）功能，用戶可以獲得 工件整個體積各個部分的更清晰的圖像，并將這些圖像融 合在一起生成正確反映了工件幾何形狀的圖像，這樣就可 使用戶對使用常規(guī)相控陣技術(shù)獲得的缺陷特性進行驗證。 可以使用64個激活晶片進行全矩陣捕獲操作，以在很 大程度上增加全聚焦方式（TFM）的覆蓋區(qū)域，并優(yōu)化檢 測的分辨率。

其它一些功能，包括16比特A掃描、插值和平滑，可以提 高相控陣成像的質(zhì)量，從而可以更有效地完成缺陷掃查 工作。

檢測工具，儀器提供

? 快速訪問所需的功能，即使在檢測過程中，也能做到這點

? 菜單結(jié)構(gòu)，意味著無需多次按動按鈕，即可以完成 檢測

? 兼具高性能和多功能：在需要時，可以使用高級模式訪問專 家級別的功能

? 使用奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)（OSC），以無線方式發(fā)送數(shù)據(jù)， 或與檢測現(xiàn)場以外的同事分享屏幕

? 支持雙晶線性/雙晶矩陣陣列探頭、動態(tài)深度聚焦、自動光 標定位以及更多其它功能

? 4 GB機載文件容量可以幫助用戶在無需分段掃查或卸載數(shù) 據(jù)的情況下掃查較大的部件

? 使用內(nèi)置GPS功能可以對獲得檢測結(jié)果的地點進行跟蹤

更快地進行分析，更快地獲得結(jié)果

對相控陣數(shù)據(jù)進行分析所花費的時間可能會比檢測所用的時間更長。OmniScan X3探傷儀為用戶提供了一些靈活好用 的工具。有了這些工具，用戶無論使用儀器還是PC機，都可以對數(shù)據(jù)進行更快的分析。通過使用改進的缺陷報表和更多的導(dǎo)出選項，如：SD卡、USB存儲器和云系統(tǒng)，用戶可以非常簡便地與其他人交流包含掃查計劃和缺陷定量在內(nèi)的全面性的檢測結(jié)果。

數(shù)據(jù)解讀工具

? 焊縫閘門可以降低來自不規(guī)則幾何形狀的回波的影響

? 體積頂視圖和體積側(cè)視圖可以融合在一起，并修正幾何形狀 方面的數(shù)據(jù)，以突出顯示缺陷

? 自動光標定位功能可以標出從指示信號的峰值波幅下降了?6 dB的點的位置，節(jié)省了定位光標的時間

? 可以將第三方程序連接到奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)，因此用戶可 以使用自己喜歡的分析程序訪問檢測數(shù)據(jù)

檢測團隊中的主力成員

OmniScan X3探傷儀具有強大的檢測性能和很高的靈活性，可以迎接相控陣檢測提出的挑戰(zhàn)。無論您正在檢測的是焊 縫、管道、壓力容器，還是復(fù)合材料，OmniScan X3儀器都可以為您提供適用的功能，幫助您有效地完成檢測工作， 并充滿信心地解讀缺陷數(shù)據(jù)。

焊縫

• 通過多組聲束設(shè)置視圖，核查是否可以正確覆蓋焊縫區(qū)域

• 波幅范圍可被擴展到800 %，因此用戶無需再次掃查部件， 就可以對飽和的指示信號進行表征，如：未熔合的指示信 號。

• 支持多探頭配置和不同的觸發(fā)方案，從而可以更好地覆蓋每 個焊縫區(qū)域

• 焊縫閘門可以突出顯示需要關(guān)注的區(qū)域

腐蝕

• 很高的采集速度，可以更方便地檢測較大的管道或容器

• 4 GB單個文件容量，可以減少中斷操作的次數(shù)，并采集到 更多的數(shù)據(jù)

• 與所有奧林巴斯腐蝕掃查器相兼容

• 支持雙晶線性陣列探頭，從而可獲得改進的近表面分辨率

復(fù)合材料

• 高波幅范圍（800 %）和16比特數(shù)字轉(zhuǎn)換器可以在檢測衰減 性較強的材料時，獲得更寬泛的動態(tài)檢測范圍

• TCG動態(tài)范圍可達65 dB，且提供經(jīng)過改進的TCG表格視 圖，以對各個點進行手動編輯

• 12 kHz的掃查速度，可以在較大的掃查區(qū)域中快速采集數(shù)據(jù)

• 對很寬的脈沖寬度進行控制，以優(yōu)化對低頻探頭的使用

性能可靠，令人信賴

如果您在室外對您的資產(chǎn)進行檢測， 檢測工具可能會被淋濕，會升溫，甚 至?xí)袈洹＿@就是我們?yōu)槭裁磿裢?注重OmniScan X3探傷儀堅固耐用 性能的原因，而且我們的OmniScan X3已經(jīng)通過了嚴格的耐用性測試。這 款儀器符合IP65防塵、防水的評級要 求，通過了從4英尺高處墜落的測試。 在您準備好進行檢測時，這款儀器可 以立即投入工作。10.6英寸WXGA大 顯示屏在大多數(shù)光線條件下可以提供 清晰可見的圖像，同時操作人員還可 進行簡潔的觸摸屏操作，即使在帶著 手套，施用了耦合劑，或其它較為困 難的條件下，也可以如此。在高溫環(huán) 境中，可以使用更換方便的冷卻風(fēng)扇 使工作溫度保持在?10 °C到45 °C 的范圍內(nèi)，而且還不會降低儀器符合 IP65評級標準的性能。

感受云系統(tǒng)的強大性能

• 可以將數(shù)據(jù)連接到奧林巴斯科學(xué)云系 統(tǒng)的無線連通性能，可使用戶更有效 地進行協(xié)同合作，并對相控陣數(shù)據(jù)進 行無縫管理工作。

• 與同事分享儀器屏幕，獲得指導(dǎo)建議 或不同的意見

• 將數(shù)據(jù)上載到云系統(tǒng)，以從任何地點 對數(shù)據(jù)進行訪問

• 在云系統(tǒng)中保存檢測設(shè)置文件，以在 需要時訪問這些文件，或?qū)⑦@些文件 通過奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng)的集線器部 署到相關(guān)的項目中

• 訪問云系統(tǒng)中的校準認證文件

• 無線固件更新有助于確保用戶獲得 新的軟件和功能

技術(shù)規(guī)格