1、主要功能及應用范圍：

FEI TECNAI G2 F20儀器配備了STEM, EDX, CCD, HAADF等多種附件，能獲取TEM明場、暗場像高分辨像和選區(qū)電子衍射，能進行EDX能譜分析和高分辨STEM原子序數(shù)像的分析，STEM結(jié)合EDX點、線、面掃描的可以進行微區(qū)能譜分析，利用三維重構(gòu)軟件進行樣品的三維重構(gòu)和分析。

該儀器可完成材料組織形態(tài)、晶體結(jié)構(gòu)、化學成分、界面結(jié)構(gòu),表面和缺陷等方面的測試與分析，可廣泛應用于生物學、醫(yī)學、化學、物理學、地質(zhì)學， 金屬、半導體材料、高分子材料、陶瓷、納米材料等領(lǐng)域的科研和教學。

2、主要規(guī)格及技術(shù)指標：

加速電壓：200KV

放大倍數(shù)：25K-1030K

點分辨率：0.24nm

線分辨率：0.102nm

信息分辨率：0.14nm

樣品傾斜角度:< ±30°

相機常數(shù): 30-4500 mm；

電子槍：肖特基熱場發(fā)射電子槍

球差系數(shù)Cs/色差系數(shù)Cc：1.2mm/1.2mm