低溫試驗箱特點：
適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料以及各種電子元器件進行高低溫試驗，低溫恒溫及儲存。

低溫試驗箱結(jié)構(gòu)
設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。
試驗箱體設(shè)計，采用數(shù)控機床加工成型，并采用無反作用把手，電熱烘箱操作容易。
箱門密封采用精制硅橡膠，從而在高、低溫下不存在老化及硬化現(xiàn)象。
內(nèi)膽為進口SUS304不銹鋼板，外殼為A3板噴塑處理，更顯光潔、美觀。
保溫系統(tǒng)采用超細玻璃纖維或硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡填充保溫區(qū)，以保證箱體內(nèi)部溫度。
溫度控制采用進口儀表，具有P.I.D自動演算的功能，人性化設(shè)計的操作方法，烘箱易學易用。
獨立的加溫與制冷系統(tǒng)使設(shè)備更有效的提高升溫、降溫、效率。
制冷系統(tǒng)為全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。
采用多翼式強力送風循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
空氣循環(huán)出風回風設(shè)計，風壓風速均符合測試標準，并可使開門瞬間溫度回溫時間快。

低溫試驗箱符合標準
GB/T2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法
GB/T2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法
GB2424.1-89     電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則

低溫試驗箱參數(shù)：
型號：GDW-500B
工作室尺寸：mm 800×700×900
外型尺寸：mm 1260×1100×2040
波動度/均勻度：≤±0.5℃/≤2℃
升溫速率：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.0℃/min
外箱材料：優(yōu)質(zhì)A3鋼板靜電噴塑/SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理
內(nèi)箱材料：進口優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板
保溫材料：超細玻璃纖維保溫棉/硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡
箱門密封：雙層耐高、低溫防老化及硬化精制硅 膠密封條
控制儀：日本進口“富士”儀表