美國米特爾LE1000-2薄膜測厚儀
簡介：
LE1000-2硅片厚度測厚儀是接觸式測厚儀，因為性價比高、準確度 高、低力值接觸/受壓能力，居于地位，在北美，亞洲和歐洲市場廣泛應用于：塑料膠片、塑料膜、硅片生產商。
一、儀器特點：
LE1000-2硅片厚度測厚儀擁有*新式的高精度內部光學測量儀器。通過電纜釋放裝置cable release）或空氣壓力連接柱塞驅動。適用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的精確測量。LE 1000-2是大部分測量應用的理想儀器。是*具性價比的機械測量法塑膠薄膜和薄片厚度測定儀器。
二、功能及優(yōu)勢：
LE1000-2硅片厚度測厚儀的系統(tǒng)高精度：優(yōu)于± 0.2 μm
固定支架：直徑80mm的堅固鋼圈及鑄鋼基座，適用于精確的重復測量。
線性：貫穿整個12mm或25mm的測量范圍。
操控簡便：提供控制器的用戶友好設置界面，可設置單位及其它特性。
壓強極低：LE 1000-2的修正版本可提供“*低壓強”，適用于薄膜厚度測定
RS-232 輸出：可連接計算機或數據采集系統(tǒng)
美國米特爾LE1000-2測厚儀的數據采集系統(tǒng)：傳輸實時數據到Excel®, Access®或其它Windows適用程序，可同時將信息發(fā)送到CSV 磁盤文檔 (可選擇)
自動歸零按鈕：儀器閑置時可自動歸零，輕易實現測量的增減。
柱塞驅動：通過電力釋放裝置，或工作部件，或氣壓
測量范圍更長：60mm及100mm適用
LCD顯示：可顯示測量結果、設置參數及操控功能。
完整的系統(tǒng)：包括傳感器、控制器、支架、鋼索起重器(with MT12/25)及std. 測量端
探頭感應面積：5平方毫米
樣品*大規(guī)格：50平方厘米。
三、滿足標準：
ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、JIS、BS等標準。
：田先生
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