為的高校和科研機(jī)構(gòu)所使用的超高壓透射電子顯微鏡(加速電壓為1,000kV)。
三維觀察和原位觀察實(shí)驗(yàn)
由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短,即使增大物鏡極靴之間的間隙,也能獲得高分辨率的圖像。此外,電子束具有很強(qiáng)的穿透能力,即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像,這是超高壓透射電子顯微鏡的。
一般的透射電子顯微鏡樣品由于極薄,失去了塊狀材料的性質(zhì),有效利用超高壓透射電子顯微鏡能觀察厚樣品的特長,能保持塊狀樣品原來的性質(zhì)進(jìn)行觀察,特別是充分利用增大物鏡極靴之間的間隙所獲得的空間,使氣體氛圍下的原位觀察和樣品大角度傾斜的三維觀察在小型試驗(yàn)室的顯微鏡內(nèi)得到了實(shí)現(xiàn)。
STEM圖像對于厚樣品的三維觀察非常有效,特別是對微米級厚樣品的三維觀察能發(fā)揮威力。具有這些功能的JEM-ARM1000在新材料的開發(fā)和生物醫(yī)學(xué)研究中是的裝置之一。
JEM-ARM1000被世界各國的研究所、大學(xué)等機(jī)構(gòu)用于生物醫(yī)學(xué)、材料開發(fā)等科學(xué)的研究。